EDX8000L利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的*部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样,一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量,再对照中国古陶瓷数据库便可以达到断代断源的功效。同时,为了好的利用X荧光分析仪器的无损测量特性,我公司根据行业需要制作大型抽真空样品腔,以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检测。
EDX8000L型仪器在测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属(Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等)等的化学成份和金属镀层厚度,做到一机多用,是古文物检测的科学检测仪器。中国历史博物馆、中国收藏家协会等古文物收藏部门都是其用户。
技术指标
型号:EDX8000L
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:同时可以分析30种以上元素
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.01微米
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:30s—200s
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
输入电压:AC 110V/220V
消耗功率:200W
环境温度: 15-26℃
相对湿度: ≤70%
标准配置
薄窗大面积的进口Fast SDD探测器
数字多道系统
可自动切换型准直器和滤光片
光路增强系统
内置可以清晰摄像头
加强的金属元素感度分析器
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
面光源
放大电路
可以低压电源
X光管
多变量非线性回归程序
相互立的基体效应校正模型。
三重安全保护模式
外观尺寸: 800×710×1360 mm
样品腔尺寸:590×550×600mm
重量:280kg
应用领域
古陶瓷
古青铜器
古首饰
镀层测厚
Thick800A是ROHS检测仪集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
可以精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用可以度定位激光,可自动定位测试可以度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
可以分辨率探头使分析结果加
良好的射线屏蔽作用
测试口可以度敏感性传感器保护
技术指标
型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
可以低压电源。
X光管。
可以度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。