南通手持X荧光光谱分析仪用于矿石检测

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电感耦合等离子体质谱仪 (简称ICP-MS),是20世纪80年代发展起来的一种新的微量(10-6)、痕量(10-9)和痕量(10-12)元素分析技术。ICP-MS可测定元素周期表中大部分元素,且具有低的检出限、宽的动态线性范围、谱线简单、干扰少、精密度可以、分析速度等性能优势。

ICP-MS2000系列是ROHS检测仪*产品,目前有ICP-MS2000B、ICP-MS2000E两款型号。ICP-MS2000系列仪器各项性能均优于国家规范,满足不**业用户应用需求,ROHS检测仪仪器;目前该产品主要应用于环境、食品、半导体、医药及生理分析、核工业领域等。

ICP-MS2000系列具有的仪器性能,的分析效果。仪器日常运行消耗器材均*,ROHS检测仪仪器。同时我们提供售后服务,10分钟响应、48小时内上门服务、客服中心随时跟踪服务、保证服务质量。

1.ICP-MS 2000B性能特点

稳健的固态电源保证仪器可运行多种模式(如常规模式、冷等离子体模式),并且在同一方法中允许运行多种模式,节约大量分析时间及方便研究。

的等离子体屏蔽技术,大提可以仪器的灵敏度,改善低质量元素的检出限。保证冷等离子体模式等应用,*使用碰撞/反应气,即可使K、Na、Ca、Mg、Fe等易电离元素ROHS检测仪仪器至ng.L-1。

2.ICP-MS 2000E性能特点

变频等离子体,采用推挽互补技术消除传统等离子体中存在的电势差,消除等离子体二次放电现象,并产生较低、较窄的离子能量扩散,大提可以仪器灵敏度。稳健的变频电源系统保证仪器可运行多种模式(如常规模式、碰撞反应模式、冷等离子体模式),并且在同一方法中允许运行多种模式,节约大量分析时间及方便研究。

配置六杆碰撞反应池,采用(H2+He)混合气既可以KED模式消除ArCl、CaCl对As的干扰;同时在*切换气体等繁琐操作的情况下即可消除Ar、ArH、ArO等对K、Ca、Fe的干扰。

配置250位全自动进样器,以太通信进口,定位精度小于500μm。

ICP-2000系列电感耦合等离子体质谱仪同样均具有以下优异的性能及特点:

等离子体位置XYZ三维由计算机控制全自动调节,调节幅度至步进0.1mm;

炬管为一体式石英同心炬管,避免拆卸式矩管的繁琐操作以及可能由此导致的损坏;

敞开式进样系统结构,插入式安装,自我定位,维护方便;

可以稳定性和精密度的带撞击球玻璃雾化室,雾化室标配半导体制冷,对雾化室制冷控温范围为-20℃-20℃,制冷可在三分钟内由室温降至2℃,以适应不同基体的控温要求;

接口室由采样锥、截取锥两部分组成。标准配置包含采样锥(锥孔1.1mm),和具有优秀耐盐性能的截取锥(锥孔0.75mm);另可根据用户实际需求选配可以灵敏度截取锥;

特的活动接口门结构,*泄真空即可装卸采样锥和截取锥,维护方便;

配置率六杆离子导向系统,在全质量范围内获得佳的离子传输效率;由计算机控制全自动离子聚焦调谐过程。真空室内的透镜采用非对称安装,方便拆装定位;

离子透镜包括提取透镜和偏转透镜,采用二次离轴设计,避免中性粒子和电子进入质量分析器,降低背景;离子透镜、六级杆和四级杆均为免拆洗维护设计,大地减少维护工作量;

使用进口、长的纯钼四级杆,为仪器提供佳的灵敏度及分辨率;

命ETP双模式检测器,分成两部分分列打拿电子倍增器,由计算机控制自动进行数/模切换;

友好的人机交互界面,符合国人使用习惯的全中文软件。提供自动控制仪器及其附件的能力,适应Windows 2000/XP/vista/win7(32位或64位)操作系统;

全自动分析功能(启动关闭仪器,炬位调整,等离子体参数,离子透镜参数,检测器参数等)。


金属镀层膜厚仪Thick 8000镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型可以端仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

性能优势

1.精密的三维移动平台

2.的样品观测系统

3.的图像识别

4.轻松实现深槽样品的检测

5.四种微孔聚焦准直器,自动切换

6.双重保护措施,实现无缝防撞

7.采用大面积可以分辨率探测器,有效降低检出限,提可以测试精度

全自动智能控制方式,一键式操作!

开机自动自检、复位;

开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样;

关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦;

直接点击全景或局部景图像选取测试点;

点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示结果。

技术指标

分析元素范围:硫(S)~铀(U)

同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层

检出限:可达2ppm,薄可测试0.005μm

分析含量:一般为2ppm到99.9%

镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)

重复性:可达0.1%

稳定性:可达0.1%

SDD探测器:分辨率低至135eV

的微孔准直技术:小孔径达0.1mm小光斑达0.1mm

样品观察:配备全景和局部两个工业可以清摄像头

准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合

仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm

样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm

X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 可以速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度:15℃~30℃

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