天瑞仪器thick800aX射线无损伤镀层测厚仪产品介绍
Thick800a是一款基于无损伤XRF原理的镀层测试技术,有效分析范围0到50微米,测试5层以内的金属镀层厚度。与其他测厚仪相比,x射线荧光无损伤镀层测厚仪的精度要远远**出。
天瑞仪器是X射线无损伤镀层测厚仪三大品牌之一,天瑞的thick800a满足各种金属层不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求,φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求,高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm,采用高度定位激光,可自动定位测试高度,定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐,鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点,高分辨率探头使分析结果更加精准。
产品结构图:
技术指标
1、仪器尺寸:
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm ,
特殊测试时,可开盖,对样品长度无限制
检测开槽口时,厚度10mm以上,宽度和深度没有限制。
样品台尺寸:230(W)×210(D)mm
移动范围:50(X)mm, 50(Y)mm
Z轴升降平台升降范围:0-140mm
2、仪器重量:90kg
3、SDD半导体探测器:
探测器输入电压:±12V,+5V
探头窗口面积:25mm-2---
探头窗口厚度:0.5mil
分辨率:140±5eV
探头内制冷温度:<-40℃
4、X射线光管:
管压:5-50kV
管流:0-1mA
靶材:W靶
窗口:铍窗
制冷方式:风冷
工作温度:≤75℃
5、高压发生器:
输入电压:24V
输入较大电流:5A
管压:0-50kV
管流:0-2mA
灯丝较大电压:5V
灯丝较大电流:3.5A
6、MCA多道分析器:
输入电压:±12V,+5V
采样频率:100 KHZ
脉冲幅度:0-7.6V
A/D位数:12位
分析道数:2048道
7、准直器系统:
准直器:?0.1 mm(可根据要求选配)
滤光片:Mo(可根据要求选配)
8、高清晰摄像头:
传感器类型:CCD(彩色)
接口:USB2.0
传感器厂商:索尼
快门类型:面阵
光学尺寸:1/4英寸
有效像素:659(H)×494(V)
有效像素尺寸:3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸:5.6μm(H)×5.6μmm(V):
感应度:0.58V(索尼标准)
颜色排列:RGB
帧率:30fps
快门速度:1/1538-1/30(秒)
9、自动对焦系统:
通用数字激光传感器、CMOS激光传感器
良好的射线屏蔽作用,测试口高度敏感性传感器保护。Thick800A是基于X射线荧光无损分析原理的快速镀层测验,是一款上招式设计的,自带三维移动平台,XYZ可**,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点。这款功能强大的仪器,配上天瑞仪器专门为其开发的镀层测厚软件,在镀层检测中可谓大展身手。
实现样品测试谱图,高清,谱线明显。
应用领域
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
产品辐射报告:
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业,注册资本46176万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、北京邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技(仙桃)有限公司五家全资子公司和厦门质谱仪器仪表有限公司、江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限。
PCB镀层测厚仪还应用于五金电镀厚度检测,首饰电镀贵金属厚度检测,电子连接件表层厚度检测,电镀液含量分析。电力行业高压开关柜用铜镀银件厚度检测,铜镀锡件厚度检测,航空材料金属镀层厚度检测。铜箔镀层厚度检测,光伏行业焊带铜镀锡铅合金厚度检测,铁镀铬 镀锌 镀镍厚度检测等。
PCB线路板主要有镀金,镀镍,镀铜,镀银,镀锡等种类。其电镀工艺流程如下:
浸酸→全板电镀铜→图形转移→酸性除油→二级逆流漂洗→微蚀→二级浸酸→镀锡→二级逆流漂洗→浸酸→图形电镀铜→二级逆流漂洗→镀镍→二级水洗→浸柠檬酸→镀金→回收→2-3级纯水洗→烘干。
对于PCB生产企业来说,厚度的有效控制能做到有效的节约成本,又能满足客户需求,做到耐氧化、耐磨等。而X射线荧光镀层测厚法是PCB工业检测电镀厚度的有效手段。下面介绍一款PCB镀层测厚仪THick800A。
利用XRF无损分析技术检测镀层厚度的仪器就叫X射线测厚仪,又膜厚测试仪,镀层检测仪,XRF测厚仪,PCB镀层测厚仪,金属镀层测厚仪等。X射线能同时实现多镀层厚度分析。在实际应用中,多采用实际相近的镀层标注样品进行比较测量(即采用标准曲线法进行对比测试的方法)来减少各层之间干扰所引起的测试精度问题。
PCB镀层测厚仪thick800a性能特点:
性能特点
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上较先进的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于145eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
精度:**高精度,可达0.001um
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。