ROHS检测仪XRF设备

江苏天瑞仪器股份有限公司

X荧光光谱仪属于先进的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展，传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式，转化成光、机、电、算（计算机）一体化、自动化的结构，并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在以已掌握的成熟的台式X荧光光谱仪技术为基础，结合国外相关较新的技术发展成果，研制出具有自主知识产权的4500型X荧光光谱仪。

国产XRF测试仪EDX 4500较大的亮点在于它大铍窗**薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔，产品通过了江苏省计量科学研究院的检测，并通过中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定，技术达到国际先进水平。

国产XRF测试仪EDX4500应用领域：

专为粉未冶炼行业研发的一款高端设备，主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。

同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。

国产XRF测试仪EDX4500性能优势：

1.**低能量分辨率，轻元素检测效果更佳

使用大面积铍窗电致冷SDD探测器，探测器分辨率较低达到139eV，各项指标优于国家标准。SDD探测器具有良好的能量线

性、良好的能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；对Si、S、AI等轻元素的测试具有良好的分析精度。

2. 测试精度更高，检出限更低

①专业化的样品腔设计，带可调速的自旋样品腔，能有效的测定轻元素和减少样品均一性的影响，提高样品的测试精度。

②采用**小**真空的样品腔设计，保证测试时达到10Pa以下，使设备的测试范围可从F元素起测试，大大地提高测试范围、轻元素检出限和精度。

3. 分析速度更快，从*1秒即可得到定性定量结果

采用*的数字多道技术，其较大线性计数率可达100kcps，可以更加快速的分析，从*1秒就可以得出定性定量结果，

设计成高计数率，大大提高了设备的稳定性。

4. 一键式智能化操作

专业软件，先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，使操作简易，对操作人员限制小的特点。

5. 强大的自动化功能

①自动化程度高，具有自动开盖、自动切换准直器与滤光片等功能。

②采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性：利用解谱技术使谱峰分解，采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

6. 强度校正法

具有多种测试模式设置和无限数目模式的自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

7. 完善的光路系统

*的光路系统，光程更短，光路损失更少，激发效果更佳。

8. 三重安全防护功能

三重安全防护功能，自动感应，没有样品时仪器不工作，无射线泄漏；加厚防护测试壁；配送测试防护安全罩。

9. 安全警示系统

警告指示系统，通电时绿色指示灯亮，测试时黄色辐射指示灯闪烁，防止误操作。

国产XRF测试仪EDX3600K配置：

铍窗电制冷SDD探测器

自旋式样品腔

高效**薄窗X光管

信噪比增强器SNE

**近光路增强系统

可自动开启的测试盖

自动切换型准直器和滤光片

真空腔体

自动稳谱装置

90mm×70mm的液晶屏

较先进的数字多道技术

多变量非线性回归程序

相互独立的基体效应校正模型

国产XRF测试仪EDX3600K技术参数：

型号：EDX3600K

X射线源：50KV、1mA

样品腔体积：Φ40.5mm×39.5mm

分析方法：能量色散X荧光分析方法

测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（U）]之间的元素均可测量

检测元素：同时分析元素达三十多种，可根据客户需要增加元素

含量范围：ppm～99.99

检测时间：10秒以上

检测对象：标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末

探测器及分辨率：**大**薄的SDD探测器，分辨率 为144±5eV,可选配较速探测器较低至125eV

激发源：铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择

摄像头：高清摄像头

测井环境：**真空系统，10秒可抽到10Pa以下，大气、氦气均可以

准直器和滤光片：四组准直器（7、5、3、1mm），6种滤光片组合自动切换

自旋装置：可调速的自旋装置

检出限：对样品中的大多数元素来说，较低检出限达5～500ppm

真空系统：**真空系统，10秒可到10Pa

数据传输：数字多道技术，快速分析，高计数率

测试台：360°电动旋转式

保护系统：样品腔为电动控制，上盖打开时测试已完成

样品放置：*特的样品杯设计，自带压环，可防止样品晃动

数字多道技术：计数率>50kcps，有效计数率高至500kcps

外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG

操作环境湿度：≤90

操作环境温度：15℃～30℃

国产XRF测试仪EDX3600K软件优势：

采用公司较新的能谱EDXRF软件，先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，操作简易，对操作人员限制小的特点。

具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

全新的软件界面和内核，采用FP和EC软件组合的方法，应用面更加广泛。

江苏天瑞仪器股份有限公司

    江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本23088万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。

        天瑞仪器的发展得到了中国各级**的大力支持与帮助，现任****常委、十二届****委员长张德江，现任****常委、政协*十二届全国****俞正声，时任****委员、**副**等各级**多次来访视察工作！

上图为天瑞大厦实景图

现任****常委、十二届****委员长张德江等**人来我公司调研

现任****常、政协*十二届全国****委俞正声等**参观天瑞仪器

  公司被授予 “国家火炬计划重点**企业”，“江苏省**企业”，“江苏省软件企业”，“江苏省科技创新示范企业”，“江苏省规划布局内重点软件企业”，“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。产品具有国际良好的技术水平，X荧光光谱仪系列产品被认定为“国家重点新产品”和“江苏省**产品”。产品品种齐全，为环境保护与安全、工业测试与分析及其它领域提供专业解决方案。

      天瑞仪器将以“行业技术**者”的姿态，不断探究世界分析领域的**。为客户提供更加先进的产品和更加满意的服务，同时为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等众多行业提供更为完善的行业整体解决方案，从而推动中国经济快速**化。

XRF

XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素 （F）到92号元素（U）。

原理

X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。

X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，释放出的电子会导致该电子壳层出现相应的电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子（如：L层）会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应的电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。这一个过程就是我们所说的X射线荧光（XRF）。

波长

元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：λ=K(Z? s) ?2式中K和S是常数。

能量

而根据**理论，X射线可以看成由一种**或光子组成的粒子流，每个光子具有的能量为：

E=hν=h C/λ

式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。

因此，只要测出荧光X射线的波长或者能量，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

分类

不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。

因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：

波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF)