荧光寿命显微镜

品牌：ISS

产品介绍： 

基于激光共焦扫描显微系统：检测波长标准配置范围：350-1050nm；寿命范围100ps-100ms；用于化学、纳米、能源、生物等学科方向，单分子动态、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。

1. 主要功能：
   

1. 激光共焦荧光强度成像LCM；

2. 荧光寿命成像FLIM，磷光寿命成像PLIM；

3. 上转换荧光（寿命）成像，稀土发光（寿命）成像，延迟荧光（寿命）成像；

4. 荧光波动成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS），FLIM-FRET成像；

5. 单**点发光（寿命）成像，单分子及单分子荧光共振转移成像，包括交替激发PIE成像；

6. 稳态及瞬态偏振成像；

7. 微区荧光光谱采集及光谱成像；

8. 反聚束测试；

       Prof. Joseph R. Lakowicz 实验室选择的FLIM系统

 

• 选择数字频域技术DFD-FLIM （FastFLIM）和时域技术TD-FLIM （TCSPC）成像技术；同时获得频域寿命和衰减曲线；

• 实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势，FRET效率分布；

• 选择300-1700nm波长范围检测器，2-4通道检测器，用于成像，FLIM-FRET；

• 可以升级无波长干扰AFM，实现同区域形貌和FLIM同步测试；

• 紫外-可见-红外激发波长，单波长或**连续激光器；单光子或双光子的激光器；