XRF合金分析仪 型号全价格优

要想确保准确可靠地进行镀层厚度测量，使用XRF仪器的人员必须了解影响测量结果的许多因素。其包括以下方面：
样品大小
镀层厚度会随镀层面积而变化，区域面积越小，镀层越厚。因此，对于校准和生产读数而言，用于测量的焊盘大小必须一致。
校准标准
对于类似于在生产设备上测量的厚度，IPC建议使用国家标准可追溯校准标准。同时应当采用量具R & R或等效统计方法。此外，还应经常检查校准标准片。
XRF仪器软件
许多XRF仪器配有背景校正软件，该软件旨在消除可能产生不正确读数的基底中的背景散射。该功能可能需要激活，如果适用，用户需要确定如何激活。
探测器类型
检测器必须能够测量三层薄镀层。根据XRF仪器的使用年限和性能，SDD的测量时间会更长，因此可能需要进行权衡。
客户需要仔细考虑并了解XRF仪器和相关软件以及使用正确的校准程序，这对于确保使用XRF来准确地进行镀层厚度测量而言至关重要。公司建议客户提供XRF使用测试频率，以实现印刷电路板制造的质量和可靠性。我们的XRF仪器与PCB技术的快速发展保持同步，旨在帮助您在生产中获得一致性和可靠性。

基于XRF的特点，即元素特征X射线的强度与元素含量之间不是简单的一元函数关系，它不仅与该元素的含量有关系，还与共存元素的含量有关系，即通常所说的基体吸收和增强效应。在该情况下为了得到好的定量准确度，从事XRF研究的学者们做了大量的工作提出了各种定量算法，简单地可以分为经验系数法和基本参数法两大类 (理论影响系数法也是一种经常被提到的方法，它是一种介于经验系数法和基本参数法之间的一类算法)。
X射线荧光光谱（XRF）技术是一项可用于确定各类材料成分构成的分析技术，已经成熟运用多年。其应用方向包括金属合金、矿物、石化产品等等。
X射线形成部分电磁波谱。其处于紫外线辐射的高能侧，使用千电子伏特表示能量高低，纳米表示波长。
XRF一般可用于分析从钠到铀的所有元素，其可识别浓度范围zui低至百万分级，高至百分比，可用于分析固体、液体和粉状物。X射线荧光光谱技术的原理
所有XRF仪器都拥有两个主要成分，一个是X射线源，一般采用X射线管，另一个则是探头。X射线源会发出初级X射线到样品表面，有时会通过滤光器对X射线束进行调整。在光束击打样品原子时，会产生次级X射线，这些次级X射线会被探头收集并处理。比较稳定的原子是由原子核及绕核旋转的电子构成，电子按照能量层级或电子壳层排列，不同的能量层级可包含不同数量的电子。
在高能初级X射线与原子发生碰撞时，会打乱原子的平衡状态。
此时，电子会从较低的能量层级射出，形成电子空位，使原子失去稳定。
为了恢复稳定性，较高能量层级的电子就会填补空位。而电子在两个能量层级间移动时释放的多余能量就会以次级X射线的形式发射出来。发射出的X射线的能量会表现出元素的特征。
这也就意味着XRF能够提供有关被测样品的定性信息。不仅如此，XRF同时也是一项定量技术。
样品原子发射出的X射线经探头收集，并由仪器处理后可形成一个光谱，显示X射线的强度峰值及能量对照。
如我们所知，通过峰值能量可以判定元素的种类。其峰值区域或强度可指示出元素在样品中的含量。
随后，分析仪就可以使用这一信息计算样品的元素构成。
XRF光谱仪为什么散射
X射线光谱仪XRF除光电吸收外，入射光子还可与原子碰撞，在各个方向上发生散射。x射线与物质的散射是由于x射线光谱仪与电子的相互作用而产生。散射作用分为两种，即相干散射和非相干散射。如果被散射光子能量与入射光子能量相同，则称为相干散射或弹性散射，相干散射又称为瑞利散射，没有能量损失。如果出现能量变化或损失，则为非相千散射，也称为康普顿散射。相干散射与光干涉现象相互作用的结果可产生x射线光谱仪衍射。x射线光谱仪衍射图与晶格排列等密切相关，可被用于研究物质结构。入射x射线光子与靶元素的内层电子碰撞，如果光子能量保持不变而只是改变了出射方向，这时的散射作用为相千散射，从能谱图上看，相干散射峰对应于入射光子能量，相干散射由于受物质表面形状等影响较小，常被用来进行形态校正，以在一定程度上补偿形态、粒度等变化对分析结果的影响。
XRF故障案例现象二：
光谱室和样品室的真空抽不到规定值
　　故障分析：
　　X射线荧光光谱分析通常在真空光路条件下工作，但光谱室和样品室有很多部位与外部相连，可能漏气的部位很多。检查真空故障时，将可能出问题的地方人为分隔为三部分：真空泵、样品室、光谱室，对这三部分逐一检查以缩小范围。
　　2.1真空泵
　　将真空泵与光谱室和样品室的接口拆下并用橡皮塞堵住，然后抽真空，如果能在几秒钟内抽到规定值，可以排除真空泵出现故障的可能性。如果能抽到规定值但时间较长，可能是真空泵的效率降低，这种情况一般发生在经常分析压片样品和油品的仪器上，粉末或油被吸到真空泵油中，改变了油的粘度，这时需更换真空泵油。
　　2.2样品室
　　样品室zui常见的漏气部位是样品自转装置上的密封圈，样品测量时通常以0.5转/秒的速度自转，仪器几年运行下来，样品自转处的密封圈磨损，密封效果变差。
　　2.3光谱室
　　光谱室zui常见的漏气部位是流气计数器，流气计数器安装在光谱室内，有一根入气管和一根出气管与外界相通，流气计数器的窗膜很薄，窗膜漏气，就会影响光谱室真空。检查方法：将入气管和出气管用一根软管连接，使流气计数器与外界隔绝，然后抽真空。
　　检查真空故障，在拆卸和安装时，要小心操作，不要让灰或头发掉到密封圈上，以避免产生新的漏气点，安装时可以在密封部位涂一点真空油脂。
关于XRF测试仪的样品取样
　　1.1对于非破坏方式：操作者应该将样品放在仪器合适的位置上，即要保证待测试部分位置准确，又要保证其它非测试部分不会被检测。操作者必须保证待测试部分和仪器之间距离和几何位置的可重现性。操作者必须考虑待测试部分尽可能具有规则外形，如面积、表面粗糙度、已知的物理结构等。如果需要从大的物体中获得待测试部分，操作者需要将取样步骤以文字形式记录下来。
　　1.2对于破坏方式：操作者需将整个取样的方法和过程以文字形式记录下来，因为这样做对后续正确的解释测试结果很重要。如果要将待测试部分制成粉末，要保证测试点的粒径大小可知或可控；为了防止颗粒有不同的化学、形态或矿物组成，粒径必须尽可能的小以降低差量吸收效应。如果要将材料溶解到液体基体中，要记录被溶解材料的质量和物理特征；终溶液要完全均匀，对不溶部分是如何处理的必须说明，以保证合理的解释终测试结果；还要说明如何可重现的将待测试溶液引入仪器进行测试，例如使用一个容积和结构一定的液体池。如果要将材料和固体基体混合，要记录该材料的质量和物理特征；终固体（熔融状态或压紧的小球）必须均匀一致；对不能混合的部分是如何处理的必须说明，以保证合理的解释终测试结果。
X射线荧光光谱法（XRF）因制样简单、精密度好、多元素同时测定等特点在地质、冶金、环境、建材等领域得到广泛应用。粉末压片法是将经过干燥或焙烧、研磨并混合均匀的粉末试样放入**模具中，用压片机在一定的压力下压制成X射线荧光光谱分析用试样片。由于制样简便、快速、成本低廉，适用于中、重元素的痕量分析和试样种类较为一致,精度要求不苛刻的主、次、痕量元素的测定，是X射线荧光光谱分析的常用制样方法之一，特别适合大批量的固体粉末样品分析。
但是现有的传统低压粉末制样方法(20-40T)难以将样品压制成符合测定需要的样片，样片表面粗糙，粉末*脱落，较易污染XRF仪器样品室，影响后续测定；或者需要加入粘结剂成型，使分析线强度下降，影响轻元素和痕量元素的检测下限，并且需要研磨、混匀等制样步骤， 增加制样时间，不利于大批量样品的快速分析。
XRF仪器的精度=精密度+准确度
首先解释一下精度的概念。用户关注的精度，实际上包含了精密度和准确度两项不同的内容。用户所需求的高精度仪器一方面要有好的测量精密度，即多次测量的离散型要小，另一方面要有好的准确性，即与真实含量的偏差要小。
精密度
精密度即检测结果的离散性，通常以多次检测的标准偏差S来计算，客户如果更关心多次测量的较差，可以用正负二倍标准偏差来换算，D=±2S，意思是任意两次检测结果的差有95%的可能性小于D。对于XRF类分析仪器，精密度的保证，是与所分析谱线的强度(计数率)密切相关的，对于同一个样品，通常谱线强度越高，精密度就越好。例如SDD探测器性能优于Si-PIN的一个重要指标就是它允许更高的计数*，并且保持分辨率不变。
准确度
另一个反映仪器精度的指标是准确度，指的是检测结果偏离真实值的程度，对于能量色散型XRF仪器而言，要得到好的准确度，首先要有好的解谱算法得到准确的特征线强度，其次要有好的、合适的定量方法从强度中得到准确的含量。