手持式XRF测试仪

江苏天瑞仪器股份有限公司

天瑞仪器XRF检测仪品牌制造商，公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本46176万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技（仙桃）有限公司五家全资子公司和厦门质谱仪器仪表有限公司、江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限公司三家控股子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。

天瑞仪器XRF检测仪参数

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
X射线荧光镀层测厚仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，高精度移动平台可精确测试点，重复定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自动定位测试高度。定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐，鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点，高分辨率探头使分析结果更加精准，良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。



同，仪路携手志凌空，荆棘斩，齐心向前冲；
庆，欢歌笑语倾耳听，众心悦，来贺天瑞名；
华，廿五时光蓝图画，举目望，此身居高塔；
诞，初创之时行路难，唯志坚，誓把明月揽；
共，分析检测把脉中，心连心，众人势如虹；
谱，各展所长鼎力助，再廿五，还与良辰住；
新，踏浪乘风破坚冰，看我辈，合力聚心行；
章，喜见前程灿烂光。愿**，依旧世无双



发展历程：
2011年1月25日，天瑞仪器在深证创业板块上市。股票代码为300165。
2011年4月25日，天瑞仪器推出SUPER XRF 2400，其**微量元素检测的*特功能将传统XRF性能提升数倍。
2011年4月26日，在2011中国科学仪器发展年会上，天瑞仪器被授予“2010年度较具影响力国内仪器产商”及“2010年度较佳网络营销奖”。
2011年5月18日，天瑞仪器董事长刘召贵博士喜获特殊津贴。
天瑞仪器有限公司生产的XRF镀层测厚仪在电镀检测行业中， 针对上述五项需求的应用：


(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可精准分析；
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行检测，检测环境里的重金属是否**标。
同时具有以下特点
快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上较先进的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种先进的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。


产品图片：




测试实例


镀镍器件是比较常见的电镀器件，其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用XRF镀层测厚仪Thick800A对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行精确定位测试，其测试位置如图。




铜镀镍件X射线荧光测试谱图





样 品 名


成分Ni()


镀层Ni(um)


吊扣


100


19.321


吊扣2#


100


19.665


吊扣3#


100


18.846


吊扣4#


100


19.302


吊扣5#


100


18.971


吊扣6#


100


19.031


吊扣7#


100


19.146


平均值


100


19.18314


标准偏差


0


0.273409


相对标准偏差


0


1.425257


铜镀镍件测试值


结论


实验表明，使用XRF镀层测厚仪对镀件膜厚测试，准确度高，速度快（几十秒），其测试效果完全可以和显微镜测试法媲美。


售后服务：


天瑞仪器作为一个集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供为一身的综合性仪器供应厂商，一直以来严格遵循“360°优质服务”的客户服务理念，以提高顾客满意度为根本目标，从服务力量、服务流程、服务内容等各个方面为客户提供*的优质服务。
我公司为客户提供技术咨询、方案设计、技术交流、产品制造、系统集成、现场勘察、工程实施、技术培训、服务热线、故障处理、回访、巡检等全过程、*、全系列的服务。这些不仅让客户体验到天瑞仪器高质量的服务，更为客户创造了更高的价值。
“快速、准确、到位”的服务
较短交货时间
较快安装
较短维修周期
较长保修期
较个性化服务
较低维护费用
镀金镀银厚度测试仪产品的应用介绍
一：仿真饰品：
K金、镀金、镀银等首饰饰品称为仿真饰品。
仿真饰品市场稂莠不齐，价格相对*、成分不明的饰品，经常会发生过敏情况，很多佩戴者对“镍过敏”“铅中毒”等知之者并不多。
美国、欧盟等国家和地区，对饰品产品有毒有害物质都有着严格的限定，特别是对儿童仿真饰品，美国消费品安全**CPSC要求铅含量小于 600ppm/kg，欧盟也对镍含量有着严格的规定。
2007年1月至11月，美国消费品安全协会累计要求召回中国产儿童饰品27次，共计582.02万件，召回原因主要涉及铅含量**标。
2009年我国一个《仿真饰品中有害物质的**要求及检测方法》标准草案通过审定并实施。


二：解决方案：
我公司针对《仿真饰品中有害物质的**要求及检测方法》及美国、欧盟等国家和地区的限定，投入了大量的精力，为各生产厂家量身定做简单可行的解决方案：X荧光光谱仪检测，一能无损的对有害物质进行检测，并且只需要一台设备就能完全满足仿真饰品要求。


三：适用仪器：
型号：Thick800A
性能特点：1. 采用天瑞**技术――*特的激发X光源，样品激发结构和探测系统，大大提高仪器元素的检测灵敏度（降低检出限）；2. 具有现代化的外观，结构和色彩，上盖电动控制开关，更人性化；3. 准直器，滤光片自动切换，可适应不同的样品测试要求；4. 大容量的样品腔和高清摄像头，样品测量更灵活方便。5.配备功能齐全的测试软件。


仿真饰品行业的应用实例
金属(铜合金镀金)中Pb的测试


1、测量参数


靶材：Zr靶
测量条件：45kV/600uA
测试时间：200s
标样：镍白铜313(Pb：60ppm)
测试图谱
下图实谱表示纯铜rc101（Pb，0ppm）即本底、红色虚谱为 镍白铜313(Pb：60ppm)


2、测试数据


本底多次测量的平均值及相对标准偏差：


下图表示为镍白铜中Pb的工作曲线：


工作曲线的斜率：tan0.21=0.0036
镍白铜313(Pb：60ppm)中Pb检出限：(3×0.013)/ 0.0036 (工作曲线斜率)
=10.8ppm



测试数据：



镀金镀银厚度测试仪产品技术参数
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护


技术指标


型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

镀层厚度测试仪Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。




性能特点


满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护


技术指标


型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg




标准配置


开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机


应用领域


黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和机构；电镀行业。
金属镀层厚度分析仪产品介绍


江苏天瑞仪器股份有限公司专业生产销售金属镀层厚度分析仪THICK800A用于铜镀银层厚度的测试。天瑞仪器作为国内一家创业板上市的分析仪器尝试，其主营产品Thick800A已经成为镀层行业检测的标准仪器，几乎60的企业使用thick800a来检测金属镀件的厚度。它的较薄测试达0.005微米，分析误差在5以内。同时可分析多层电镀，合金层电镀，PCB镀金，通信连接件，镀铬，镀镍，镀锌，镀锡的厚度。




仪器配准样品台：XY轴可控制、Z轴自动控制，可调高度为0-14cm


镀层测厚仪，镀层膜厚仪，电镀膜厚仪，金属镀层膜厚仪，镀层膜厚测试仪，X射线荧光测厚仪，X射线镀层测厚仪，X荧光镀层测厚仪，XRf膜厚测试仪，X-ray测厚仪，厚度测量仪器，X荧光光谱仪检测金属电镀层厚度，国产XRF膜厚仪，镀金层厚度测试仪，铜镀银测厚仪，锌层测厚仪，铁镀铬测厚仪，铁镀锌测厚仪


技术参数：


元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg


应用领域


黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和机构；电镀行业。

X射线金属膜厚度检测仪thick800a具有良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。能够满足各种金属层不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，高精度移动平台可精确测试点，重复定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐，鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点，高分辨率探头使分析结果更加精准。天瑞仪器X-ray镀层测厚仪Thick800A是基于X射线荧光无损分析原理的快速镀层测验，是一款上招式设计的，自带三维移动平台，XYZ可**，在镀层检测中可谓大展身手。

技术指标
SDD半导体探测器：探测器输入电压：±12V，+5V，探头窗口面积：25mm­2­­­，探头窗口厚度：0.5mil，分辨率：140±5eV，探头内制冷温度：<-40℃。
X射线光管：管压：5-50kV，管流：0-1mA，靶材：W靶，窗口：窗，制冷方式：风冷，工作温度：≤75℃。
高压发生器：输入电压：24V，输入较大电流：5A，管压：0-50kV，管流：0-2mA，灯丝较大电压：5V
，灯丝较大电流：3.5A
MCA多道分析器：输入电压：±12V，+5V，采样频率：100 KHZ，脉冲幅度：0-7.6V，A/D位数：12位
分析道数：2048道
准直器系统：准直器：Ø0.1 mm(可根据要求选配)，滤光片：Mo(可根据要求选配)
高清晰摄像头：传感器类型：CCD（彩色），接口：USB2.0，传感器厂商：索尼，快门类型：面阵，光学尺寸：1/4英寸，有效像素：659(H)×494（V），有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：感应度：0.58V（索尼标准）
颜色排列：RGB
帧率：30fps
快门速度：1/1538-1/30（秒）
自动对焦系统：通用数字激光传感器、CMOS激光传感器
仪器尺寸：
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
特殊测试时，可开盖，对样品长度无限制
检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。
样品台尺寸：230(W)×210(D)mm
移动范围：50(X)mm， 50(Y)mm

应用领域：
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和机构；电镀行业。
样品测试谱图，高清，谱线明显。：

江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本46176万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技（仙桃）有限公司五家全资子公司和厦门质谱仪器仪表有限公司、江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限。专业的400热线，7*24小时在线，4小时响应，24小时上门服务。
售后服务：
公司本着“客户至上、高效快捷、诚信务实、价格合理"的经营合作理念,为您提供快速优质的技术服务。产品送货上门，培训安装，耗材配件，实验室打包解决方案。
X射线荧光镀层检测仪，型号thick800a


制造厂商：江苏天瑞仪器股份有限公司


产品图片：




主要技术指标：


1、仪器尺寸：


外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm


样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，


特殊测试时，可开盖，对样品长度无限制


检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。


样品台尺寸：230(W)×210(D)mm


移动范围：50(X)mm， 50(Y)mm


Z轴升降平台升降范围：0-140mm


2、仪器重量：90kg


3、SDD半导体探测器：


探测器输入电压：±12V，+5V


探头窗口面积：25mm2


探头窗口厚度：0.5mil


分辨率：140±5eV


探头内制冷温度：<-40℃


4、X射线光管：


管压：5-50kV


管流：0-1mA


靶材：W靶


窗口：窗


制冷方式：风冷


工作温度：≤75℃


5、高压发生器：


输入电压：24V


输入较大电流：5A


管压：0-50kV


管流：0-2mA


灯丝较大电压：5V


灯丝较大电流：3.5A


6、MCA多道分析器：


输入电压：±12V，+5V


采样频率：100 KHZ


脉冲幅度：0-7.6V


A/D位数：12位


分析道数：2048道


7、准直器系统：


准直器：Ø0.1 mm(可根据要求选配)


滤光片：Mo(可根据要求选配)


8、高清晰摄像头：


传感器类型：CCD（彩色）


接口：USB2.0


传感器厂商：索尼


快门类型：面阵


光学尺寸：1/4英寸


有效像素：659(H)×494（V）


有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)


像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：


感应度：0.58V（索尼标准）


颜色排列：RGB


帧率：30fps


快门速度：1/1538-1/30（秒）


9、自动对焦系统：


通用数字激光传感器、CMOS激光传感器


实现样品高度的自动对焦。

X-ray镀层厚度分析仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。X射线镀层分析仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。

X射线是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测较薄镀层、双镀层、合金镀层。随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，X射线镀层厚度分析仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且**，是工业和科研使用较广泛的测厚仪器。工业X射线镀层厚度分析仪以其快速、无损、现场测量等优点，已在冶金、建材、地质、环保、商检、考古、医学等领域得到*推广和应用。近几年来X射线荧光仪已在工业镀层及涂层厚度测量中应用越来越广泛。众所周知，产品和金属元件表面镀层或防腐层厚度是与产品质量与性能相关的重要指标。实验表明使用同位素X射线荧光分析方法，能够满足工业镀层和涂层厚度的分析要求，并且具有无损、在线、简便快速、可实现自动控制等特点。
X荧光镀层厚度分析仪基本原理
镀层原理
X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，这时原子被激发了，处于激发态。此时，其他的外层电子便会填补这一空位，即所谓的跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的，称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征X射线的强弱（或者说X射线光子的多少）则代表该元素的含量。

产品性能特点和优势：
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
仪器结构图：

应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和机构；电镀行业。
thick800a-2
分析案例：
镀镍器件是比较常见的电镀器件，其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行精确定位测试，其测试位置如图。

镀层谱图
分析结果：

镀层结果
天瑞一直致力于分析仪器事业，相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案务。
天瑞仪器作为一个集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供为一身的综合性仪器供应厂商，一直以来严格遵循“360°优质服务”的客户服务理念，以提高顾客满意度为根本目标，从服务力量、服务流程、服务内容等各个方面为客户提供*的优质服务。

我公司为客户提供技术咨询、方案设计、技术交流、产品制造、系统集成、现场勘察、工程实施、技术培训、服务热线、故障处理、回访、巡检等全过程、*、全系列的服务。这些不仅让客户体验到天瑞仪器高质量的服务，更为客户创造了更高的价值。
“快速、准确、到位”的服务
较短交货时间
较快安装
较短维修周期
较长保修期
较个性化服务
较低维护费用。
X射线膜厚仪能够在几十秒的时间实现金属电镀层的厚度检测，比传统的电解式测厚仪具有更好的测试效率和分析精度，目前已经成为电镀加工企业，首饰加工行业，PCB电路板工业，五金件加工，紧固件表面，汽车部件厂家，通信连接件等生产企业，解决膜厚测试的标准分析方法。


X射线膜厚仪图片：



技术指标：


X射线光管：


管压：5-50kV


管流：0-1mA


靶材：W靶


窗口：窗


制冷方式：风冷


工作温度：≤75℃




高压发生器：


输入电压：24V


输入较大电流：5A


管压：0-50kV


管流：0-2mA


灯丝较大电压：5V


灯丝较大电流：3.5A




SDD半导体探测器：


探测器输入电压：±12V，+5V


探头窗口面积：25mm2


探头窗口厚度：0.5mil


分辨率：140±5eV


探头内制冷温度：<-40℃




自动对焦系统：


通用数字激光传感器、CMOS激光传感器


实现样品高度的自动对焦。




MCA多道分析器：


输入电压：±12V，+5V


采样频率：100 KHZ


脉冲幅度：0-7.6V


A/D位数：12位


分析道数：2048道




准直器系统：


准直器：Ø0.1 mm(可根据要求选配)


滤光片：Mo(可根据要求选配)




高清晰摄像头：


传感器类型：CCD（彩色）


接口：USB2.0


传感器厂商：索尼


快门类型：面阵


光学尺寸：1/4英寸


有效像素：659(H)×494（V）


有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)


像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：


感应度：0.58V（索尼标准）


颜色排列：RGB


帧率：30fps


快门速度：1/1538-1/30（秒）




仪器尺寸：


外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm


样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，


特殊测试时，可开盖，对样品长度无限制


检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。


样品台尺寸：230(W)×210(D)mm


移动范围：50(X)mm， 50(Y)mm


Z轴升降平台升降范围：0-140mm




X射线膜厚仪能满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求。高精度移动平台可精确测试点，重复定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点。高分辨率探头使分析结果更加精准。良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。








江苏天瑞仪器股份有限公司是生产能量色散X射线膜厚仪的高科技公司，成立于1992年，是国内在创业板上市的**家高科技分析仪器公司。主营产品X射线膜厚仪thick800a曾于2011年荣获科学仪器优秀产品奖， 产品符合国家计量合格要求。提供完善的售后服务：


1，所出售本合同所规定的仪器进行终身维修，免费提供升级软件。
2，提供较有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。
3，负责培训操作人员，培训内容为仪器分析原理、结构、操作、维护保养、简单维修、软件使用、方法建立、样品测试等。

天瑞thic800a上照式鼠标定位X射线荧光测厚仪是检测5层以内，50微米以内的金属厚度。


开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机


黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和机构；电镀行业。


元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg