供应X射线荧光镀层测厚仪thick800A

 镀层测厚X射线荧光光谱仪

 型号：Thick800A

主要技术指标：

1、仪器尺寸：

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，

特殊测试时，可开盖，对样品长度无限制

检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。

样品台尺寸：230(W)×210(D)mm

移动范围：50(X)mm， 50(Y)mm

Z轴升降平台升降范围：0-140mm

2、仪器重量：90kg

3、SDD半导体探测器：  

探测器输入电压：±12V，+5V

探头窗口面积：25mm2

探头窗口厚度：0.5mil

分辨率：140±5eV

探头内制冷温度：<-40℃

4、X射线光管：

管压：5-50kV

管流：0-1mA

靶材：W靶

窗口：铍窗

制冷方式：风冷

工作温度：≤75℃

5、高压发生器：

输入电压：24V

输入较大电流：5A

管压：0-50kV

管流：0-2mA

灯丝较大电压：5V

灯丝较大电流：3.5A

6、MCA多道分析器：

输入电压：±12V，+5V

采样频率：100 KHZ

脉冲幅度：0-7.6V

A/D位数：12位

分析道数：2048道

7、准直器系统：

准直器：Ø0.1 mm(可根据要求选配)

滤光片：Mo(可根据要求选配)

8、高清晰摄像头： 

传感器类型：CCD（彩色）

接口：USB2.0 

传感器厂商：索尼 

快门类型：面阵

光学尺寸：1/4英寸

有效像素：659(H)×494（V）

有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V) 

像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)： 

感应度：0.58V（索尼标准）

颜色排列：RGB

帧率：30fps

快门速度：1/1538-1/30（秒）

9、自动对焦系统：

通用数字激光传感器、CMOS激光传感器

实现样品高度的自动对焦。