供应日本NOISEKEN
1 静电放电模拟试验器
ESS-S3011>-30R
ESS-B3011>-30R
ESS-801/ESS-801GL试验环境
2 半导体器件静电放电模拟试验器
ESS-6002/6008
3 高频噪声模拟试验器
INS-4020/4040
INS-AX2系列
4 电快速瞬变脉冲群模拟试验器
FNS-AX3A16B/B50B
5 雷击浪涌模拟试验器
LSS-6230
LSS-F02系列(IEC标准)
LSS-720B(JEC标准)
6 电源电压变动模拟试验器
VDS-2002
7 衰减振荡波模拟试验器
SWCS-931SD
SWCS-932/S4
8 PCB板电磁波解析系统/三坐标辐射测试系统
EPS-3007 PCB板电磁波干扰源探查系统
EPS-6000
EPS-01A三坐标辐射测试系统
EPS-240
9 高频接触&近场电磁抗扰度测试天线
NHHA&NTS
INS-4020 4040 NOISEKEN高频噪声模拟试验器
高频浪涌模拟器(群脉冲波形)
SWCS-931SD
再现电压逐步衰减的噪声(衰减振荡波)、评估搭载电子设备的耐性。半导体开关的采用,跟以往比实现了高信赖性和高精度
产品特点:
半导体开关在测试时精度更高;
重复频率在0.4Hz~400Hz的范围内可调;
耦合电容切换更容易;
高频浪涌模拟器主要技术参数:
项目 功 能 / 规 格
输出波形 衰减振荡波
输出电压 100V~1500V
极性 正(个波)或负(短路杆切换)
振荡频率 1.5MHz±0.2MHz
到达半峰值时间 10μs±20%(0.1kV~1.0kV) 10μs±40%(1.0kV~1.5kV)
输出阻抗 50~200Ω(可10Ω间距设定)
重复周期 0.4~400Hz(3断切换、连续可调)
施加时间 1s~10min或连续
耦合电容 100pF/470pF
被测物(EUT)电源容量 —
电源 AC100V~240V、50/60Hz
尺寸 (W)430×(H)200×(D)400mm
重量 约7kg
公司主营产品:静电放电模拟器(ESS-S3011A/GT-30RA;ESS-B3011A/GT-30RA;ESS-L1611A/GT-30RA)、雷击浪涌模拟器(LSS-6330A;LSS-F03系列;LSS-720B2)、电源电压变动模拟器(VDS-2002)、衰减振荡波模拟器(SWCS-900系列;SWCS-931SD)、空间电磁场可视化系统(EPS-02EV3)、车载电子抗扰度测试系统(ISS-7600系统、JSS系统、ISS-T1321)、DC电源电压变动试验(SG-7040A系统)、其他(OLC-100)宽带套筒天线、高频噪声模拟器(INS-S220;INS-4020/4040;INS-AX2系列)、电快速瞬变脉冲群模拟器(FNS-AX4-A20/B63)等。
NOISEKEN高频噪声模拟器INS-S220解决市场上出现的问题:高频率、能量可调试验脉冲
脉冲宽度小的50ns ~100ns程度的高频噪声,能量是比较小,但是短时间内2次的波形上升以及下降造成的电压变动,急速变动时发生的电磁场的耦合可 以影响电子回路。 另外,脉冲宽度宽的800ns ~ 1000ns 的高频噪声,因为能量比较大,能容易地给回路施加很大的电压变动。 高频噪声测试与国际标准IEC61000-4-4群脉冲测试相比较,因为上升时间快,频率成分高是它的特征。这样对EUT进行施加干扰时, 更容易侵入电路,更容 易影响电子回路。 还有,由于高频噪声的脉冲宽度不同,包含的频谱的成分及强度也不同,建议用不用脉冲宽度的条件进行多种类的测试。