电感耦合等离子ICPOES ICPOES牌子

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钢研纳克江苏检测技术研究院有限公司

功率:1350w器:大面积CCD器光室:38℃光源:固态光源品牌:钢研纳克

Plasma 2000ICP-OES
全谱电感耦合等离子体光谱仪
Plasma 2000可广泛适用于冶金、地质、材料、环境、食品、医药、石油、化工、生物、水质等各领域的元素分析。
1、 中阶梯光栅与棱镜交叉色散结构,径向观测,具有稳健的检测能力。
2、 高效稳定的自激式固态射频发生器,体积小巧,匹配速度快,确保仪器的高精度运行及优异的长期稳定性。
3、 高速面阵CCD采集技术,单次曝光获取全部谱线信息,真正实现“全谱直读”。
4、 功能强大的软件系统,简化分析方法的开发过程,为用户量身打造简洁、舒适的操作体验。
电感耦合等离子ICPOES
钢研纳克ICP光谱仪测定电池级碳酸锂中 17种杂质元素
摘要:介绍了一种使用电感耦合等离子体发射光谱仪直接测定电池级碳酸锂中17种杂质元素的方法,并对该方 法进行了验证,结果显示加标回收率在94% ~ 108%之间,线性相关系数大于0.999,相对标准偏差(RSD)小于4%。 该方法适用于多品牌,多批次碳酸锂中杂质元素的分析。
关键词:电感耦合等离子体原子发射光谱法;电池级碳酸锂;杂质元素
电池级碳酸锂是生产锂电池正极材料(主要 有钻酸锂、锰酸锂、磷酸铁锂等)以及电解液的关 键核心原料。由于电动汽车对锂电池需求巨大, 具有广阔的发展前景,电池级碳酸锂也进入发展 快车道。碳酸锂材料的品质直接决定其价位,而 杂质分析是判定其品质优劣必不可少的环节。依 据标准YS/T 582—2013《电池级碳酸锂》规定,碳 酸锂质量分数应不大于99.5%[1-3]。本文采用电感耦 合等离子体发射光谱仪,测定了电池级碳酸锂中的 17种杂质元素,结果满意。
1实验部分
1.1主要仪器及工作参数
Plasma2000型全谱电感耦合等离子体发射光 谱仪(钢研纳克检测技术股份有限公司);EH45A plus型电加热板(莱伯泰科)。
ICP-AES工作条件:发射功率为1.3 kW;冷却 气流量为13.0 L/min;辅助气流量为1.0 L/min;雾化 器流量为0.65 L/min;蠕动泉泉速为20 r/min。使用旋流雾化室、耐高盐雾化器、耐高盐炬管,中心管管 径为2.0 mm。
1.2试剂
Al、Ba、Ca、Cr、Cu、Fe、K、Mg、Mn、Na、Ni、Pb、 Rh、Sr、V、Zn、Si标准储备溶液(国家钢铁材料测试 中心);硝酸(北京化学试剂研究所);实验用水为高 纯水;氩气(北京诚维峰气体有限公司):纯度大于 99.995%。
1.3样品处理
准确称取2.500 0 g碳酸锂样品于100 mL烧杯 中,加入适量高纯水,缓慢加入5mL硝酸,加热溶解 后,冷却全室温,转移定容至50 mL容量瓶待测。
1.4标准溶液系列的配制
实验选取消解好的样品溶液作为溶剂配制标 准曲线。混合元素标准溶液的配制:逐级稀释各元 素标准溶液配制成下表所需浓度,加入消解后的样 品溶液定容至刻度摇匀。元素Si的标准溶液单独 配制:同样用样品溶液作为溶剂逐级稀释Si标液配 制成如表1所列浓度。
2结果与讨论
2.1线性相关系数
本实验采用标准加入法进行测定。分别对混合元素标准溶液和Si标准溶液进行测定,各元素的 相关系数(见表2)均在0.999以上。
2.2分析谱线的选择
对同一元素,ICP-AES有多条谱线可供选择,但是由于基体的影响和其他元素对待测元素可能产 生的干扰,需对谱线进行干扰的考察和选择,本文 对待测的17种元素谱线进行了筛选,比较了各谱线 的谱图、背景轮廓和强度值,并作出了相应的背景 扣除,有效减少了背景的影响,终选择的元素谱 线如表3。
在上述选定的工作条件下,重复测量空白溶液 11次,以空白测定标准偏差的3倍计算各元素的检 出限,结果列于表4。
2.4加标回收率
对碳酸锂样品进行了加标回收率试验及精密 度试验(见表5),各元素的回收率均在94%〜108% 之间。
2.5样品测试结果
按照实验方法对样品进行分析,结果列入表6。
3结语
本文使用Plasma2000型全谱电感耦合等离子 体发射光谱仪测定碳酸锂中的杂质元素,通过计算检出限、回收率和精密度,分析结果准确稳定,可用 于电池级碳酸锂中Al、Ba、Ca、Cr、Cu、Fe、K、Mg、 Mn、Na、Ni、Pb、Rh、Sr、V、Zn、Si 等杂质元素的分析 测定。
电感耦合等离子ICPOES
钢研纳克Plasma2000ICP光谱仪测定铁基非晶材料中B、Cr、Mn、Nb、P
关键词:Plasma2000,ICP-OES,非晶材料,钢铁,全谱瞬态直读
非晶合金(俗称金属玻璃)是一种兼有液体和固体、金属和玻璃特征的金属合金材料,因而具有独特而优异的性能,如高强度、高韧性、高硬度、极高抗腐蚀以及软磁特性等,是一类极具发展前途的新型金属材料。常见的非晶有铁基非晶、钴基非晶、铁镍基非晶、钴镍基非晶及纳米非晶等。新型非晶合金是靠成分的调整来抑制晶态相的形成和长大,从而得到很强的非晶形成能力,准确测定非晶材料中的成分含量非常重要。本实验采用混酸溶样,使用钢研纳克生产的ICP-OES发射光谱仪准确测定了铁基非晶材料中的B、Cr、Mn、Nb、P等元素。
仪器特点
Plasma 2000 电感耦合等离子体发射光谱仪(钢研纳克检测技术股份有限公司)是一种使用方便、操作简单、测试快速的全谱ICP-OES分析仪,具有良好的分析精度和稳定性。仪器特点如下:
高效固态射频发生器,超高稳定光源;
大面积背照式CCD芯片,宽动态范围;
中阶梯光栅与棱镜交叉色散结构,体积小巧;
多元素同时分析,全谱瞬态直读。
Plasma 2000型ICP-OES光谱仪
样品前处理
仪器参数
仪器工作参数
仪器工作参数 设定值 仪器工作参数 设定值
射频功率/W 1250 辅助气流速/L·min-1 0.5
冷却气流速/L·min-1 13.5 蠕动泵转速/rpm 20
载气流速/L·min-1 0.5 进样时间/s 25
典型元素谱线
光谱扫描后,根据样品中各待测元素的含量及谱线的干扰情况,选其灵敏度适宜、谱线周围背景低且无其他元素明显干扰的谱线作为待测元素的分析线。其典型谱线见下图及下表。
准确度及方法回收率
按照实验方法测定样品,并进行加标回收试验,结果见下表
各元素的加标回收实验 %
元素 测定值 加入量 测定总值 回收率%
稳定性
对实际样品连续测定11次,计算其平均值及稳定性RSD%
各元素稳定性 %
元素 11次测定值 平均值 RSD
方法检出限
在该方法选定条件下,对铁基体空白溶液连续测定11次,以3倍标准偏差计算方法中各待测元素检出限,以10倍标准偏差计算方法中各待测元素的测定下限,该测定下限完全满足铁基非晶材料中B、Cr、Mn、Nb、P元素的分析。
各元素的线性回归方程和检出限
元素 谱线nm 检出限% 测定下限%
结论
Plasma 2000光谱仪对非晶材料中B、Cr、Mn、Nb、P等元素进行测定,稳定性较好,RSD%(n=11)在1.39%-1.86%之间,检出限在0.00035-0.0231%之间,回收率在95.0-100.0%之间,准确性好。Plasma 2000能够快速、准确、可靠的测定铁基非晶材料中B、Cr、Mn、Nb、P等元素。
电感耦合等离子ICPOES
技术参数:
射频发生器技术参数:
功率稳定性:≤0.1%
震荡频率:27.12MHz
频率稳定性:≤0.01%
匹配方式:自动匹配
电磁场泄露辐射强度:<0.5V/m
进样系统技术参数:
炬管方向:垂直放置
炬管线圈:3匝
炬管:一体式炬管,中心管可选0.8mm、1.5mm、2.0mm(石英或陶瓷)。
雾化器:同心雾化器或平行通道雾化器,外径6mm,可选标准雾化器、高盐雾化器、氢氟酸雾化器.
雾室:旋流雾化室,可选配双筒型雾化室和耐HF雾化室。
蠕动泵:4通道12滚轮,转速连续可调。
氩气消耗量:12L/min~18L/min
冷却气:0.00L/min~20.00L/min,精度0.01L/min
辅助气:0.00L/min~2.00L/min,精度0.01L/min
载气:0.00L/min~2.00L/min,精度0.01L/min
量子化效率:无镀膜,量子化效率可达75%以上
检测器冷却:高效半导体制冷,制冷温度-10℃
分析性能:
观测方式:垂直火炬
检出限:亚ppb- ppb
短期稳定性:RSD≤0.5%(500LOD)
长期稳定性:RSD≤1.0%(2h,500LOD)
仪器规格
尺寸:宽x深x高(121cm x 74cm x 80cm)
重量:约200kg
工作环境
实验室湿度环境:相对湿度20%~80%
氩气纯度:不小于99.95%
排风:不小于400立方米/小时
电源:200V~240V AC 单相;50Hz~60Hz;4kVA

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