台式镀层厚度测厚仪 电镀镀层测厚仪

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元素分析范围:从硫(S)到铀(U)同时可以分析元素:30种以上元素,五层镀层分析含量:一般为ppm到99.9%镀层厚度:一般在50μm以内探测器:探测器
Thick800A是ROHS光谱仪集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
台式镀层厚度测厚仪
X光射线法原理
X射线射到电镀层表面,产生X射线荧光,根据荧光谱线元素能量位置及其强度确定镀层组成及厚度。
应用特点:精确,测量镀层范围广,适合细微面积及**薄镀层的测量。
台式镀层厚度测厚仪
ROHS光谱仪仪器有限公司生产的能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可精准分析;
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的重金属是否**标。
同时具有以下特点
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
台式镀层厚度测厚仪
镀层FP软件测厚准确度
单镀层和多镀层样品中外层分析精度比较高,一般相对误差在5%以内, 其测量的稳定性也比较好;
多层样品中内层镀层的分析精度逐层下降,一般*二层相对误差在10%,*三层相对误差20%;
具体测试精度需依靠相应厚度标样进行校正,以达到相应精密度需求。
-/gbbdabg/-
X射线的防护
1、距离防护,I—1/S2
2、时间防护,I—t
3、屏蔽防护, Pb、Fe等
1希沃特(SV)=100雷姆(R)
世界卫生组织制定:全身照射年累积剂量:5R=50msv
2001年我国制定的有关标准为:50msv/Year
VXQ-150A 机外:<<0.001msv/Hour---- <9msv/year
一般金属0.5mm就可以衰减99%。一个人可以工作600年而没有危险。人体不同的部位对射线的承受能力也不相同,依由弱到强的顺序排列:眼>腹部>盆腔>头部>胸部>四肢>

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