安徽R&S网络分析仪回收 射频微波测试仪器回收

上海东时贸易有限公司

上海东时贸易有限公司高价回收Agilent安捷伦N5182A信号源 高价回收工厂闲置仪器，整批或单出，评估
评估、现金、高价、上门回收进口仪器仪表
网络分析仪:E5071C/B/A、E5063A、E5062A、
E5061A/B、8753d/E/ES、
ZVB8、ZNB8、ZVL6、E5080A、N5230A/C、
E8364B等等
频谱分析仪:N9020A、E440X系列、FSV系列、FSW系列、E444X系列等等
蓝牙测试仪:MT8852B/A、MT8850A、N4010A、Q2010，2011，2012等等
信号发生器:N5182B/A、E8257D、SMU200A、N5183A/B、E4438C、SMBV100A等等
综合测试仪:CMW500、CMW270、HP8924C、
8921A、IQ系列等等
LCR测试仪:E4980A、4287A、4284A、E4981A、4291A/B、4294A等等
噪声分析仪:N8973A、N8974A、N8975、N8976B等等
示波器:MSO系列、MDO系列、DPO系列、TDS系列等等
频率计、万用表、电源、音频分析仪、视频分析仪等
测量向导助手软件
技术指标
宽范围：测试端口上的范围 > 123 dB（典型值）
快的测量速度：41 ms，进行全双端口校准，扫描 1601 点时
低的迹线噪声：0.004 dB rms，70 kHz IFBW 时
特性
内置 Visual Basic for Applications（VBA）
强大的分析和误差校正功能
随时升级所有可用的 ENA 选件
选件配置
E5071C—240 双端口测试仪 9KHz-4.5GHz 不带偏置T型接头
E5071C—245 双端口测试仪 100KHz-4.5GHz 带偏置T型接头
E5071C—440 4端口测试仪 9KHz-4.5GHz 不带偏置T型接头
E5071C—445 4端口测试仪 100KHz-4.5GHz 带偏置T型接头
E5071C—280 双端口测试仪 9KHz-8.5GHz 不带偏置T型接头
E5071C—285 双端口测试仪 100KHz-8.5GHz 带偏置T型接头
E5071C—480 4端口测试仪 9KHz-8.5GHz 不带偏置T型接头
E5071C—485 4端口测试仪 100KHz-8.5GHz 带偏置T型接头
E5071C—008 频率偏置模式
E5071C—010 时域分析能力
E5071C—790 测量向导助手软件
E5071C—1E5 高稳定度时基

Agilent E5071B ENA射频网络分析仪，300 kHz至8.5 GHz
主要特性与技术指标
在测试端口处保持125 dB范围（典型值）
扫描速度：9.6微秒/点
迹线噪声：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，带有平衡测量能力
夹具嵌入/反嵌和端口特性阻抗转换
用于变频设备的频率偏置模式
内置Visual Basic ® for Applications（VBA）
测量向导助手软件
描述
Keysight E5071B网络分析仪提供了快、的射频器件测量能力。其的体系结构通过减少扫描次数来完成多端口测量，进一步提高了测试吞吐率。

Agilent N5230C PNA-L 微波网络分析仪
主要特性与技术指标
300 kHz 至 6/13.5/20 GHz 和 10 MHz 至 20/40/50 GHz
2 端口或 4 端口，具有两个内置信号源
110 dB 系统和 122 dB 接收机范围，32,001 个测量点，32 通道
< 0.006 dB rms（选件 22x）
测量速度：每点 4 至 9 µs
描述
PNA-L 网络分析仪的设计可满足您的通用网络分析需求，且价格在您的预算之内。
300 kHz 至 6 GHz，2 端口
300 kHz 至 13.5 GHz，提供 2 端口和 4 端口型号
10 MHz 至 20 GHz，提供 2 端口和 4 端口型号
10 MHz 至 40 GHz，2 端口
10 MHz 至 50 GHz，2 端口
直观的操作方式可简化测量和加快测量速度
PNA-X 提供 10.4 英寸触摸屏、采用下拉式菜单的简单界面、硬键和功能键

Agilent 8753D 网络分析仪, 30 kHz 至 3 GHz
主要特性与技术指标
内置S-参数测试仪
可选时域和扫描谐波测量
具有频率偏置功能的混频器测试
可选步进衰减器
可用于全部正向和反向测量的内装S-参数测试装置，使您能通过一次连接全面评测元件
优异的精度，经过全面的校准
可选时域和扫描谐波测量
用频率偏置能力作混频器测试
可选步进衰减器，以扩展源输出功率范围
通过/失败测试，内插误差校正，测试序列和用户定义测试频率，以提高生产能力
2个独立的显示通道，以同时测量反射和传输特性