维护简单的元素成分分析仪 多环芳烃质谱分析仪

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波长范围:140 – 680nm像素分辨率:10ppm检测器:高性能线阵CMOS激发光源:全数字等离子火花光源技术凹面光栅:刻线密度3600l/mm测试元素:Mg~U检测对象:固体、粉末、液体探测器:Fast-SDD分辨率:128eV
直读火花光谱仪:
利用激发光源产生的能量作用于样品,当某一能量施加到一个原子上,一些电子就改变其轨道,当这些电子返回到原来的轨道时,以一定波长的光形式恢复到原来的状态.因而,一个含有几种不同元素的样品将产生有每种元素特定的波长组成的光,通过用一色散系统将这些波长分开,我们就能测定存在哪一种元素和这些波长中每一种波长的强度,这些强度和相应的元素的浓度成一定的函数关系。同时利用电子接收系统测量这种发光强度,再用计算机处理这些信息,这样就可以测出相关元素的浓度。
全谱分析技术,方便配置更多基体和元素,方便在用户现场补充配置
仪器体积小巧,对实验室空间要求低
全天候工作,具有优异的稳定性和可靠性
样品测试速度快,单次测试过程少于40秒
仪器使用和维护简单、方便,对人员专业要求低
原厂安装分析程序,测试数据精确,适用合号齐全
配置标准化样品可对仪器进行周期性校正
不使用化学试剂,测试过程安全、环保
维护简单的元素成分分析仪
X荧光测试属于表面测试,测试的样品表面必须能够表征材料的内部元素组成情况。因此在合金样品测试前需要对样品的表面进行处理。目的是去除样品表面的氧化层,油漆层,电镀层等。
合金样品的测试一般有两种方式:
对于硬度较高的合金样品(如钢铁类或钛合金等),使用光谱磨样机对表面进行打磨处理。如进行现场测试,无法使用光谱磨样机,则可以使用小型砂轮机对样品表面进行打磨处理。
对于硬度较低的合金样品(如铜合金,铝合金等),可使用小型车床将样品表面进行处理。现场测试,也可使用小型砂轮机或小钢挫对样品表面进行打磨处理。
维护简单的元素成分分析仪
全谱检测全面测试各种金属和元素
基于COMS检测器全谱测试技术,全面测试各种金属中元素的谱线,方便实现多基体、多元素的测试。
配置和补充测试基体、通道、分析程序较为方便,方便交货后在客户处补充测试元素、分析程序。
国际供应商提供核心部件
光谱色散元件——光栅由德国Zeiss/法国JY公司制造,保证优异的光谱分辨能力
光谱检测器——COMS探测器由日本滨松制造,确保谱线检测灵敏、低噪声
光室恒温系统
光室恒温腔体内配置反馈式加热装置和高效隔温层,有效保证光室内恒温。
由此抑制温度变化下机械件尺寸微弱变化导致的光路漂移。除特殊维护,平时保养一般不需进行描迹。
同时检测器工作在恒温环境有助于光电转换性能的稳定。
快速同时分析钢铁、有色金属材料中多种元素
将已预处理样品置于样品台后,OES8000s可在至多40秒内呈现测试结果。
可根据客户需求,测试几乎所有钢铁、有色金属材料中常见元素含量。
专业的测试方案
长期测试技术服务的积淀,多环芳烃质谱分析仪仪器为钢铁、有色金属材料分析用户提供成熟的测试方案。
测试方案采用针对材料元素含量分类的分析程序,满足用户各类常见测试需求。
分析程序由原厂采用国际、国家标准样品校准,经专业仪器软件拟合、校正。
用户只需采用原厂配置少量标准化样品即可完成日常维护,不需购买大量制作分析程序的标准样品。
维护简单的元素成分分析仪
技术性能及指标
1. 分光室设计
帕邢-龙格结构,罗兰圆直径400mm
波长范围140 – 680nm
像素分辨率10pm
恒温33℃±0.2℃
特殊材质铸造,保证光室形变小
间歇式真空系统,可保证真空泵运行时间小于5%
2. 凹面光栅
刻线密度3600l/mm
一级光谱线色散率:1.04 nm/mm
3. 检测器
高性能线阵CMOS
4. 分析时间
依样品种类而不同,一般少于40秒
5. 激发光源
全数字等离子火花光源技术
高能预燃技术 (HEPS)
频率100-1000Hz
电流1-80A
6. 激发台
3mm样品台分析间隙
喷射电极技术
特殊设计的气路系统,保证氩气消耗
7. 尺寸和重量
高450mm 长900mm 宽600 mm
120 kg
8. 功率
功率1500W
功率70W
应用领域
质检中心
金银珠宝首饰店贵金属冶炼厂
首饰加工厂
分析测试中心
典当行贵金属回收

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