- 2024-05-09 10:32 36025
- 产品价格：面议
- 发货地址：江苏苏州昆山市 包装说明：不限
- 产品数量：9999.00 个产品规格：不限
- 信息编号：169101487公司编号：13613533
- 孙 销售经理 微信 13814856624
- 进入店铺 在线留言 QQ咨询 在线询价
镀层膜厚仪厂商
- 相关产品：
膜厚仪
膜厚仪又名膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理是，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
X射线膜厚仪器产品介绍
X射线膜厚仪器服务江苏天瑞仪器股份有限公司专业生产X射线莫厚仪器。Thick800A能够在几十秒的时间实现金属电镀层的厚度检测，比传统的电解式测厚仪具有更好的测试效率和分析精度，目前已经成为电镀加工企业，首饰加工行业，PCB电路板工业，五金件加工，紧固件表面，汽车部件厂家，通信连接件等生产企业，解决膜厚测试的标准分析方法。
X射线膜厚仪图片：
技术指标：
X射线光管：
管压：5-50kV
管流：0-1
材：W
窗口：铍窗
制冷方式：风冷
工作温度：≤75℃
高压发生器：
输入电压：24V
输入电流：5A
管压：0-50kV
管流：0-2
灯丝电压：5V
灯丝电流：3.5A
SDD半导体探测器：
探测器输入电压：±12V，+5V
探头窗口面积：25mm 2
探头窗口厚度：0.5mil
分辨率：140±5eV
探头内制冷温度：<-40℃
自动对焦系统：
通用数字激光传感器、CMOS激光传感器
实现样品高度的自动对焦。
MCA多道分析器：
输入电压：±12V，+5V
采样频率：100 KHZ
脉冲幅度：0-7.6V
A/D位数：12位
分析道数：2048道
准直器系统：
准直器：Ø0.1 mm(可根据要求选配)
滤光片：Mo(可根据要求选配)
高清晰摄像头：
传感器类型：CCD（彩色）
接口：U2.0
传感器厂商：索尼
快门类型：面阵
光学尺寸：1/4英寸
有效像素：659(H)×494（V）
有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：
感应度：0.58V（索尼标准）
颜色排列：RGB
帧率：30fps
快门速度：1/1538-1/30（秒）
仪器尺寸：
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
特殊测试时，可开盖，对样品长度无限制
检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。
样品台尺寸：230(W)×210(D)mm
范围：50(X)mm， 50(Y)mm
Z轴升降平台升降范围：0-140mm
X射线膜厚仪能满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求。高精度平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。鼠标可控制平台，鼠标点击的位置就是被测点。高分辨率探头使分析结果更加。良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。
江苏天瑞仪器股份有限公司是生产能量色散X射线膜厚仪的高科技公司，成立于1992年，是国内在创业板上市的家高科技分析仪器公司。主营产品X射线膜厚仪thick800a曾于2011年荣获科学仪器产品奖， 产品符合计量合格要求。提供完善的售后服务：
1，所出售本合同所规定的仪器进行终身维修，免费提供升级软件。
2，提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人维修和排除故障。
3，负责培训操作人员，培训内容为仪器分析原理、结构、操作、维护保养、简单维修、软件使用、方法建立、样品测试等。
专门研发用于镀层行业的仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及平台。是功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
1527729514709822.png
X射线荧光镀层测厚仪Thick800A可全自动软件操作，可多点测试
技术指标
型：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
Thick800A金属测厚仪比其他品牌优势：
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
1527728795602768.png
膜厚仪又名膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理是，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
X射线膜厚仪器产品介绍
X射线膜厚仪器服务江苏天瑞仪器股份有限公司专业生产X射线莫厚仪器。Thick800A能够在几十秒的时间实现金属电镀层的厚度检测，比传统的电解式测厚仪具有更好的测试效率和分析精度，目前已经成为电镀加工企业，首饰加工行业，PCB电路板工业，五金件加工，紧固件表面，汽车部件厂家，通信连接件等生产企业，解决膜厚测试的标准分析方法。
X射线膜厚仪图片：
技术指标：
X射线光管：
管压：5-50kV
管流：0-1
材：W
窗口：铍窗
制冷方式：风冷
工作温度：≤75℃
高压发生器：
输入电压：24V
输入电流：5A
管压：0-50kV
管流：0-2
灯丝电压：5V
灯丝电流：3.5A
SDD半导体探测器：
探测器输入电压：±12V，+5V
探头窗口面积：25mm 2
探头窗口厚度：0.5mil
分辨率：140±5eV
探头内制冷温度：<-40℃
自动对焦系统：
通用数字激光传感器、CMOS激光传感器
实现样品高度的自动对焦。
MCA多道分析器：
输入电压：±12V，+5V
采样频率：100 KHZ
脉冲幅度：0-7.6V
A/D位数：12位
分析道数：2048道
准直器系统：
准直器：Ø0.1 mm(可根据要求选配)
滤光片：Mo(可根据要求选配)
高清晰摄像头：
传感器类型：CCD（彩色）
接口：U2.0
传感器厂商：索尼
快门类型：面阵
光学尺寸：1/4英寸
有效像素：659(H)×494（V）
有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：
感应度：0.58V（索尼标准）
颜色排列：RGB
帧率：30fps
快门速度：1/1538-1/30（秒）
仪器尺寸：
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
特殊测试时，可开盖，对样品长度无限制
检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。
样品台尺寸：230(W)×210(D)mm
范围：50(X)mm， 50(Y)mm
Z轴升降平台升降范围：0-140mm
X射线膜厚仪能满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求。高精度平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。鼠标可控制平台，鼠标点击的位置就是被测点。高分辨率探头使分析结果更加。良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。
江苏天瑞仪器股份有限公司是生产能量色散X射线膜厚仪的高科技公司，成立于1992年，是国内在创业板上市的家高科技分析仪器公司。主营产品X射线膜厚仪thick800a曾于2011年荣获科学仪器产品奖， 产品符合计量合格要求。提供完善的售后服务：
1，所出售本合同所规定的仪器进行终身维修，免费提供升级软件。
2，提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人维修和排除故障。
3，负责培训操作人员，培训内容为仪器分析原理、结构、操作、维护保养、简单维修、软件使用、方法建立、样品测试等。
专门研发用于镀层行业的仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及平台。是功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
1527729514709822.png
X射线荧光镀层测厚仪Thick800A可全自动软件操作，可多点测试
技术指标
型：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
Thick800A金属测厚仪比其他品牌优势：
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
1527728795602768.png
