火花直读光谱仪的工作原理 光谱仪测量范围

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直读光谱仪的分辨率受到入缝宽度、出缝宽度、光栅刻线数、光谱仪的焦距、光线入射角、光谱级次等因素的综合影响,其中全谱和多道直读光谱仪的主要区别在于出入缝宽度、光栅刻线数和焦距的不同.全谱型直读光谱仪虽然焦距比较小,但其采用了更窄的入缝和更高刻线数的光栅,因此其光学分辨率与大型多道光谱仪相当;而且大型多道直读光谱仪采用PMT作为器,必须配合出缝来选择光谱,受制于光谱强度、出缝的加工和光学调试难度等因素的影响,出缝宽度通常在50μm左右,影响了多道光谱仪的分辨能力.而全谱型直读光谱仪采用CCD作为器,其像素宽度仅为10μm左右,大大提高了光谱的分辨能力.

光电光谱分析存在的误差在所难免，要正确的认识误差，查找误差存在的原因，采取有效的措施消除误差。光谱分析误差除受上面几种因素的影响外，还有以下几种因素的影响：
1.人的因素：    操作者的质量意识、责任意识、操作技术、水平高低、熟练程度等都会影响的效果；
2.设备因素：    比如设备的状态是否优良、是否定期和维护，光源性能稳定性如何，氩气供气系统是否稳定，试样加工设备状况是否正常、是否对加工设备进行定期维护保养等，都会一定程度上影响结果的准确性。
3.样品试样因素：比如待测试样成分是否均匀，是否具有试样的代表性，热处理状态和组织结构状态是否正常，标准试样的成分和控制试样的成分是否均匀，成分含量的标准值是否可靠，组织结构是否统一、磨制样品方法是否规范、效果是否有效等等，都是影响其效果的关键因素。
4.分析方法因素：在分析方法上，分析曲线制作及拟合程度是否达标，标准化过程及效果是否，控样选择是否规范，定值是否严格等等，都一定程度上影响着效果。
5.环境因素：比如所在分析室的温度、湿度是否正常，受否受电磁干扰的影响，所处环境是否清洁卫生，是否具备要求的条件稳定的操作环境，只有有了良好的环境，才能为结果的准确性提供**。

通常来说，光谱仪有三个重要组成部分：狭缝（Slit）、色散元件（Dispersive element）、器（Detector）。在光谱仪性能评价中，重要的评价指标之一便是色散能力（Dispersive power）。
简单而言，就是色散元件能够把复色光分散到多宽的范围上，光被分散地越宽，光谱仪的分辨率自然越好。
可以看到，焦平面越远，刻线越密，色散能力越强，后者受到光栅制作工艺限制，传统的光谱仪往往在上下功夫，这也是光谱仪做的比较大的原因。
然而，值得注意的是，你把光谱仪的分辨能力提得越高，虽然波长相近的光能够被区分地更好，但其代价就是一定长度的detector上所能展现的光谱范围变小了，所以，当光栅光谱仪发展到一定阶段后，人们发现重要的问题又出现在了器（detector）这一侧。
器
感光元件是直读光谱仪的核心，元器件的好坏关系到精密仪器的精度。直读光谱仪（OES）的核心元件有三种,一种是广泛使用的CCD（电荷耦合）元件；另一种是CMOS（互补金属氧化物半导体）器件,还有一种是PMT光电倍增管。
以上的器件都是光谱仪的核心器件，元件的质量对光谱仪的种类来说很重要。

全谱直读光谱仪的优点在于全元素的分析，同时分析样品中的多种元素，十几或者几十个元素的含量。与碳硅仪不同，全谱直读光谱仪不能分析铁水，虽然在原理上它能分析所有的元素，但是在实际应用中，它仅能分析固体样品，需要等铁水固定后才能进行。
当炉前分析厂家不仅仅需要分析碳含量与硫含量，还要一些别的含量时，就轮到全谱直读光谱仪上场了。比碳硅仪的铁水分析能得到更多元素，直观得到更多数据。
全谱直读光谱仪的难点是碳，硅等，因为空气会干扰并且影响到这些元素，当需要测量时，全谱直读光谱仪需要进行真空或者冲氩处理，使时没有空气干扰，这样结果会比较准确。
当今市场中，越来越多的客户选择购买全谱直读光谱仪来进行炉前，一是因为它全元素的覆盖范围，二是因为全谱直读更广泛的应用，三是分析精度很高。因此许多炉前分析的厂家选全谱直读光谱仪，而没有购买碳硅仪，但是全谱直读光谱仪不能直接分析铁水，在选购时还是应该根据需求考虑清楚。