FPC镀层测厚仪原理 深圳镀层仪器生产厂家

江苏天瑞仪器股份有限公司主营产品：ROHS检测仪EDX1800b环保测试、X射线镀层测厚仪Thick800A、火花光电直读光谱仪OES1000、，ROHS检测仪，手持式光谱仪Genius5000、ROHS分析仪，等离子光谱仪ICP2060T以及EDX3600B、EDX3000、EDX4500、EDX3600H、EDX3600L、EDX3000plus、EDX2800、EDX9000、EDX2000H、EDXXRF、WDX200、WDX400、genius3000、genius5000、genius7000、genius9000、SUPER XRF1050、质谱联用仪、等离子体质谱仪ICP-MS2000、气质联用仪GC-MS6800、液质联用仪LC-MS1000、粮食镉大米重金属快速分析仪等！
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本15392万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。    
 江苏天瑞仪器股份有限公司已拥有遍布全国的三十多个技术服务网点和**100多家代理机构，我们的服务遍布**每一个角落。公司成立的客户服务中心，免费，即时快速的解决客户问题，4小时响应，上门服务。
Think600PCB镀金膜厚仪是集天瑞仪器多年镀层测厚检测技术和经验，以特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要，人性化的设计，使测试工作加轻松完成。PCB镀金膜厚仪使用而实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且全新的具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作人性化、方便。

镀层测厚仪仪器概述：镀层膜厚是电镀产品的重要技术指标，关系到产品的质量以及生产成本。 Thick800A镀层测厚仪是天瑞集多年的经验，研发用于镀层行业的一款膜厚测试仪器，配备移动平台，可全自动软件操作，并进行多点测试，检测结果加精准。
镀层测厚仪性能优势
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
小φ0.1的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

thick800a开关厂镀层测厚仪性能特点：
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
开关厂镀层测厚仪是解决镀金层，镀银层，镀镍层厚度测试的仪器，具备无损分析，快速测试，简便操作的特性，分析范围是0-50微米，不同的镀层种类都有特定的极限穿透厚度，其分析精度达0.005微米，thick800a由江苏天瑞仪器公司研发，生产的，*的高科技分析仪，产品荣获国家产品奖。随着市场竞争日益激烈，企业成本的不断提高，客户对（THICK800A)的测试精度要求越来越高，普通的电镀膜厚测试仪无法满足客户的要求，通过X射线照射，不同元素的发射出不同能量及强度的X光，通过及软件分析来分析金属（铝合金、铜合金）电镀层（镀锌、镀镍、镀金、镀银、镀锡等）的厚度，天瑞仪器是X射线测厚仪（国产）厂家，无损分析，多一次分析五层，薄可分析0.005μm，采用上照式照射，移动探测器和X光管上下可动，可以对凹面和凸面达到好的测试效果，完成下照式对某些样品无法测试的效果。

产品介绍
Thick 8000 是针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
Thick 8000 电镀层厚度测试仪性能优势：
精密的三维移动平台
的样品观测系统
的图像识别
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦
直接点击全景或局部景图像选取测试点
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果
Thick 8000 技术指标：
分析元素范围：从硫（S）到铀（U）
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9%
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135eV
采用的微孔准直技术，小孔径达0.1，小光斑达0.1
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05、Ф0.1、Ф0.2与
Ф0.3四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200/s 高速度333.3/s
X/Y/Z平台重复定位精度 ：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度 15℃～30℃
测试实例
在保证计数率的情况下能有效分辨相近元素，提高测试稳定性、降低检测限。
仪器配置                                            
1    硬件：主机壹台，含下列主要部件： 
(1)   X光管                 (2) 半导体探测器
(3) 放大电路                (4) 高精度样品移动平台
(5) 高清晰摄像头            (6) 高压系统
(7) 上照、开放式样品腔      (8）双激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
2   软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
3   计算机、打印机各一台
计算机（，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）
4   资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。