等离子体光电直读光谱仪 火花直读光谱仪钢研纳克仪器

钢研纳克江苏检测技术研究院有限公司

钢研纳克直读光谱仪源于中国冶金行业的科研机构“钢铁研究总院”，具有70年金属分析检测经验，金属检测标准制定者，直读光谱仪国家标准GB/T4336起草单位。钢研纳克拥有国内强大的光谱仪产品研发、生产、售后服务力量，生产出了“国产好仪器”火花直读光谱仪Lab Spark系列，世界首创的OPA金属原位分析仪系列，直读光谱仪的者SparkCCD系列，系列产品获得了广大用户的认可，在中国累计销售4000余台，是中国金属材料光谱分析领域的引领者。
   钢研纳克直读光谱仪系列产品多次获得、省部级重项，如国家科学技术进步奖二等奖（金属原位分析仪）、两次荣获中国分析仪器奖项“BCEIA”金奖，山东省科学技术进步奖一等奖，中国仪器仪表行业协会自主创新金奖，国家知识产权局中国专利奖等奖项。
在以院士为首的研发团队带领下，钢研纳克充分发挥技术研发优势，承担了大量的国家重大课题，包括国家重点研发计划项目、工程院咨询项目、工信部工业转型升级（中国制造2025）资金项目、国家自然基金项目等。同时，公司检测技术及其产品多次获得、省部级重项，如国家科学技术进步奖二等奖、中国仪器仪表行业协会自主创新金奖、国家知识产权局中国专利奖等。公司拥有专利130余项，拥有软件著作权40余项。

干扰效应。    干扰效应也称基体效应，又称共存元素、第三元素或伴随物效应，指的是在样品中除了分析物外所有其他成分的影响，在光谱分析中能引起谱线的强度变化，导致分析结果产生一些误差，这种干扰效应是光谱分析中需要高度重视的一个问题。
分析试样和标样影响。    在实际工作中，分析试样和标样的冶炼过程和物理状态存在一定的差异，所以导致校准曲线经常出现变化，一般情况下标样大多处于锻造和轧制状态，分析样品大多处于浇铸状态，为有效防止试样的冶金状态变化影响检测分析的结果，经常使用的控制试样要保证与分析试样的冶金过程和物理状态保持一致，对试样的分析结果进行的控制。
取样方法影响。    取样方法和对样品的处理是光谱分析中影响分析精度和准确度的重要而关键的因素。炉前分析时要对炉中铸态的钢样采取快速红切的方式进行，如果检测的样品存在裂纹、杂质和气孔等问题，要重新进行取样检测。对于低碳钢材料要将其置入流水中进行骤降温处理，确保样品组织结构形成马氏体和奥氏体，从而有效提升碳的分析结果的准确性。但要引起注意的是，对于高碳样品进行切割后，不能采取骤降温的方式进行处理，防止因为骤降温引发裂缝发生。另外，对于铸铁和球墨铸铁的检测和分析，要确保所检测的样品进行白口化，并确保取样的温度、脱模时间、冷却速度标准和统一。另外不同材料的检测分析，要选择适合的研磨工具，通常使用氧化铝砂轮片进行打磨，要注意打磨的颗粒处于中等状态，不能太粗或太细。需要强调的是，试样样品的表面要打磨掉0.5至1.5毫米，除去样品表面的氧化层，防止检测结果的不准确，氧化层对碳的分析结果的准确性影响更大。
其它因素影响。    光电光谱检测分析存在的误差在所难免，要正确的认识误差，查找误差存在的原因，采取有效的措施消除误差。光谱检测分析误差除受上面几种因素的影响外，还有以下几种因素的影响：
1.人的因素：    操作者的质量意识、责任意识、操作技术、水平高低、熟练程度等都会影响检测的效果；
2.设备因素：    比如设备的状态是否优良、是否定期检测和维护，光源性能稳定性如何，氩气供气系统是否稳定，试样加工设备状况是否正常、是否对加工设备进行定期维护保养等，都会一定程度上影响检测结果的准确性。
3.样品试样因素：比如待测试样成分是否均匀，是否具有试样的代表性，热处理状态和组织结构状态是否正常，标准试样的成分和控制试样的成分是否均匀，成分含量的标准值是否可靠，组织结构是否统一、磨制样品方法是否规范、效果是否有效等等，都是影响其检测效果的关键因素。
4.分析方法因素：在分析方法上，分析曲线制作及拟合程度是否达标，标准化过程及效果是否，控样选择是否规范，定值是否严格等等，都一定程度上影响着检测效果。
5.环境因素：比如检测所在分析室的温度、湿度是否正常，受否受电磁干扰的影响，所处环境是否清洁卫生，是否具备检测要求的条件稳定的操作环境，只有有了良好的检测环境，才能为检测结果的准确性提供**。

光电光谱分析选用的分析线，必需符合下列要求。
 直读光谱分析时，一般都采用内标法。因内标法进行分析时常采用多条分析线和一条内标线组成，常用试料中的基体元素为内标元素。组成的线对要求均称，就是当激发光源有波动时，两条线对的谱线强度虽有变化，但强度比或相对强度能保持不变。
如R表示强度比即          R=I1/I0
I1为分析线的强度，Io为内标线强度，表明I1和Io同时变，而R则不受影响。R与含量C之间有线性关系。
 在光电直读光谱分析时，有很多分析通道，要安装许多内标通道有困难，因此采用一个内标线。但有人认为再要提高光电光谱分析的准确度还得采用不同的内标线，这还有待于光电转换元件的小型化来解决。
 光电法时，有时还用内标线来控制曝光量，称为自动曝光，也就是样品在曝光时，分析线和内标分别向各自积分电容充电，当内标线的积分电容器充电达到某一预定的电压时，自动截止曝光。此时分析线的积分电容器充电达到的电压即代表分析线的强度I，并且亦即代表分析线的强度比R(因为R=I1/Io，而此时Io保持常数)这个强度I或强度比R就由测光读数所表示。
 现在一般采用计时曝光法较为普遍。

钢研纳克Spark 8000 全谱火花直读光谱仪采用高分辨率线阵CMOS（Complementary Metal Oxide Semiconductor）作为检测器，CMOS 检测仪器集成性高、读取速度更快、功耗低、长期稳定性更高；每个像素自带放大器，可对元素进行强度调整，增加仪器的准确度，降低分析限，实现全谱扫描。采用智能控制光室充气系统，仪器性能更稳定，服务期限更长久。海量的谱线使分析不再受限，曲线分段跳转同一元素不同谱线间实现无缝衔接，拓展分析范围第三元素干扰校正使元素分析更加准确，可以在用户现场任意增加材料基体和分析元素而无需增加硬件，维护保养方便。能量、频率连续可调全数字固态光源，适应各种不同材料；网口采集传输，速度快，通用性更强。