用于金属材料分析 神农架国内金属合金分析仪

昆山市周市牧亚凯机电设备商行

EDX4500H是一款针对于金属合金，水泥行业，矿产行业等研发出来的金属合金分析仪，内置自动转盘，可同时测试多个样品，操作简单方便
薄端窗X光管
电制冷UHRD探测器
内置高清晰摄像头
光路增强系统
可自动切换型准直器和滤光片
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸： 510×589×350 mm
样品杯尺寸（10个）：40.7×26mm
重量：55Kg
技术指标
元素分析范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：ppm—99.99%(不同材质，分析范围不同)
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
检测限：RoHS指令规定的有害元素（Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检出限达ppm级
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60秒—200秒
工作温度:15℃—30℃
工作湿度：≤70%
工作电压：AC 110V/220V
应用领域
水泥检测
钢铁和有色金属检测
矿料分析
RoHS检测

合金种类繁多，应根据样品材质选择不同的前处理方法，包括酸溶、碱熔、富集分离等。
合金种类有很多，不同的样品前处理方法也不同，一般前处理所用的试剂有、氢氟酸、、、等。
X射线荧光光谱分析仪，利用X射线激发元素特征能谱，并对特征能谱进行侦测的原理，真正实现了对合金材料的，，无损的检验。并且该型号光谱分析仪配备了多种类型的合号库，在元素鉴别的同时，即对合金的牌号进行了相应分析。
X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性； 利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
技术指标
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层
分析精度：0.05%
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s
能量分辨率为：（150±5）eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
测试结果将会与合金规格库中各元素的含量范围值进行比对，根据各元素的测试精度，设定不同元素的权重，终计算出样品的匹配牌号。
Cu合金种类繁多，不同元素在不同的铜合金的中含量范围较大，对各类不同元素的的测试需选择不同的铜合金曲线。主要杂质元素常量的测试精度：Mn，Fe，Ni, Cu，Zn, Sn, Pb。Cu；需要客户判断测试以上几个元素，是否可以达到终检测目的。如果不能达到客户目的，可以选择其它化学方法进行测试。

合金钢分析仪EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
性能特点
薄窗X光管，指标达到水平
的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）

由于焊条由焊芯和皮组成，焊芯主要为金属元素，皮主要为矿物质。所需测量元素较多，需测量元素为Na、Mg、Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、As、Zr、Nb、Mo、Sn、Sb、Ba、Ta、Re、Pb、Bi等，其中P、S等为有害物质，对有害杂质的含量，应有严格的限制，优于母材。焊芯成分直接影响着焊缝金属的成分和性能，所以焊芯中的有害元素要尽量少。
EDX4500H X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内焊条公司对复杂成份、多类型榈中元素的、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性；利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99% 
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层
分析精度：0.05% 
测量对象状态：粉末、固体、液体 
测量时间：60s—200s 
能量分辨率为：（150±5）eV 
管压：5KV—50KV 
管流：50uA—1000uA
2.12EDX 4500H基本参数
型号：EDX4500H
输入电压：AC 110V/220V
消耗功率：200W
环境温度：15℃-30℃ 
环境湿度：35%-70%
分析精度：0.05% （96%以上） 
镀层厚度测量至0.01μm
测量时间：60s-200s
管压：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
能量分辨率为：（150±5）eV
元素含量分析范围：1ppm-99.99%
同时分析元素：24种元素同时分析 
测量对象状态：粉末、固体、液体 
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）。