光谱仪金属成分检测

光谱仪金属成分检测对贵金属进行化学成份分析及纯度成色判断已经成为一种广泛应用、受欢迎，并且有国家标准的支持，且性能可靠的方法。光谱仪金属成分检测与火花试金法和化学试剂测试法相比，使用XRF对贵金属进行分析是一种更迅速、更经济的多元素检测方法。
光谱测金仪器具有**的优势表现：
无损：真正的无损检测，不需要任何耗材，不会对检测样品造成任何的破损！
：主部件采用美国进口Si-PIN探测器，对所有元素均能检测，度高达万分之一（行业限）
便捷：集成工业计算机，双触摸屏显示设计，操作流畅，一键检测，接通电源，即可检测！
快速：3秒内可对样品定性识别，60秒内可得出测试，节省大量的时间成本，提高工作效率！
直观：高清晰图形即时显示，检测结果直观明了，一键打印检测报告。
安全：加装防辐射装置，主动保护操作人员安全，完全符合【国家辐射安全标准】！

测金仪的主要特点
内置电脑的一体化机型，*外接电脑，触屏操作，**流畅的体验感受
仪器核心部件均进口， 仪器能的区分千足金（99.9%）和万足金（）
比肩欧洲光谱仪的“一键测试”模式，无论任何未知金属物质，操作员均*选择测试模版，软件智能匹配测算方式，快速、、无损的对未知金属进行定性定量分析

测金仪其中一种为X荧光，设备其分析方法，是具有一定能量分辨率的X射线探测器同时探测样品所发出的各种能量特征X射线，探测器输出信号幅度与接收到的X射线能量成正比，利用能谱仪分析探测器输出信号的能量大小及强度，对样品进行定量，定性分析。

光谱测金仪的工作原理：
光谱测金仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管通过产生入射X射线（一次X射线），来激发被测样品。
受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。
探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定性波长的X射线，因此,只要测出荧光X射线
的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
应用领域：
珠宝制造
回收行业
典当行/精炼行业
质量技术监督局
现金黄金兑换
零售行业
应用和示例
测试贵金属Au、Pt. Ag. Pd的分析
现场对黄金进行克拉级别鉴定: 0-24 kt
核查废旧金属中的金含量
对杂质材料进行辨别