X射线测厚仪器

X射线测厚仪产品资料介绍，X射线测厚仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供镀层X射线测厚仪的产品说明和报价。thick880基于xrf原理的荧光无损能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，不同的元素有不同的特征X射线；探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理；计算机的应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
应用领域：黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和饰加工行业；银行、饰销售和机构；电镀行业。
快速、的分析：
大面积正比计数探测器和50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供灵敏度
简单的元素区分：
通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
性能优化，可分析的元素范围大：
预置800多种容易选择的应用参数/方法
的长期稳定性：

电镀层镀层测厚仪它能出常见金属镀层厚度，*样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。电镀镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。

应用:
塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、其它各种镀层厚度的测量及成分分析。

Ø  同时分析元素周期表中由钛（Ti）以上元素的镀层厚度；
Ø  可以分析单层、双层、三层等金属及合金镀层的厚度；
Ø  *复杂的样品预处理过程；分析测量动态范围宽，可从0.01M到60M ；
Ø  采用的探测器技术及的信号处理线路，处理速度快，精度高，稳定可靠；
Ø  采用正高压激发的微聚焦的X光管，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示；
Ø  采用彩色摄像头，准确观察样品并可拍照保存样品图像；
Ø  采用电动控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，准确方便；
Ø  采用双激光对焦系统，准确定位测量位置；
Ø  度高，稳定性好，故障率低；
Ø  采用多层屏蔽保护，辐射安全性可靠；
Ø  WINDOWS XP 中文应用软件，特的分析方法，完备强大的功能，操作简单，使用方便,  分析结果存入标准ACCESS数据库；
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