金层测厚仪

金层测厚仪产品资料介绍，金层测厚仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供金层测厚仪的产品说明和报价。thick880基于xrf原理的荧光无损能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，不同的元素有不同的特征X射线；探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理；计算机的应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
仪器配置：
高压电源：0-50kv
光管管流：0uA-1000uA
滤光片：可选择多种定制切换
探测器：Si-Pin/（SDD可选）
多道分析器
样品腔尺寸：310*280*60(mm)
外部尺寸：380*372*362
重量：29kg

X荧光镀层测厚仪性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。天瑞一直致力于分析仪器事业，相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案务。
X荧光镀层测厚仪特点-简易：
对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。天瑞一直致力于分析仪器事业，相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案务。

x射线测厚仪可测量：单一镀层：Zn，Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

X荧光镀层测厚仪分析含量：一般为2ppm到99.9% 镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）的微孔准直技术：小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mmSDD探测器：分辨率低至135eV分析元素范围：硫（S）～铀（U）