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氮化钛镀层 x射线膜厚仪
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较薄可测试：0.005um较多可测试层数：5层原理：X荧光光谱检测器类型：SDD探测器算法：FP基本参数
THICK800A电镀层测厚仪技术指标元素分析范围从硫（S）到铀（U）中间的任意金属镀层 一次可同时分析多达五层镀层薄可测试0.005μmTHICK800A电镀层测厚仪分析含量一般为2ppm到99.9% 镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型相互立的基体效应校正模型多变量非线性回收程序长期工作稳定性高度适应范围为15℃至30℃电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
