x射线荧光分析仪

x射线荧光分析仪产品详细资料介绍 ，x射线荧光分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术，能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）。
近年来，X射线荧光光谱分析技术的进步主要体现在仪器成本的降低和体积尺寸的减小，这些进步均有效的扩大了XRF的使用范围。例商业化手持式X射线荧光光谱仪（HHXRF）大约诞生于20年前，这是该技术发展历史上的一个重要转折点，因为HHXRF的出现实现了从固定的台式光谱仪到移动化便捷设备的转变。68年后，一种新型的X射线荧光技术诞生个受益于这种新型X射线荧光技术的无疑是制造业、机械加工、金属加工、废品回收以及钢铁回收等行业中的质量管理部门，对于这几个行业，几乎所有人都会非常关心他们产品的质量问题。此外，一些先前因为成本高昂而**考虑过使用X射线光谱分析技术的领域也能受益于此并开始使用XRF，包括航空航天、汽车和仪器等行业。本文主要对传统的X射线荧光光谱仪进行了简单的阐述，并对一种新型XRF技术中的摩擦电效应进行了介绍。同时本文还探索了人们是如何受益于这种新型X射线荧光光谱分析技术。

X荧光光谱仪分析粉末样品主要有两种方法：
①、熔融法。熔融法是应用较多的一种制样方法，它较好地消除了颗粒度效应和矿物效应的影响。但熔融法也有缺点：因样品被熔剂稀释和吸收，使轻元素的测量强度减小；制样复杂，要花费大量时间；成本也较高。
②、粉末压片法
粉末压片法的优点是简单、快速、经济，在分析工作量大、分析精度要求不太高时应用很普遍，也常用于痕量元素的分析。在实际应用如水泥、岩石、化探样品的分析中，粉末压片是一种应用很广泛的X荧光光谱仪制样法。

X荧光光谱仪测试方法及结果
经上述控制方案的设计后，按照《JJG 810-1993波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》的要求对各器件切换的精密度进行了检定。精密度以20次连续重复测量的相对标准偏差RSD表示。每次测量都必须改变晶体、准直器和滤波片的位置条件。
RSD计算方法如下：
顺序式公式1.jpg(1)
顺序式公式2.jpg(2)
顺序式公式3.jpg(3)
顺序式公式4.jpg(4)
式中：
Ii——i次测量的计数率;
T——测量的时间;
n——测量的次数;
顺序式公式5.jpg——n次测量的平均计数;
S——n次测量的标准偏差。
连续20次测量中，如有数据**出平均值±3S，实验应重做。
通过不做任何变化的计数涨落试验、准直器重现性试验、晶体重现性试验和滤光片重现性试验分别测量时间10s，交替测量20次并记录与涨落试验同条件的CuKα的计数率值。后与国标**的结果和其他同类仪器的性能对比如表1所示。

X射线荧光光谱仪（XRF）具有谱线简单、不破坏样品、操作简便、测定迅速等优点，广泛应用于地质、冶金、采矿、有色、海洋、生化、环境、石化、商检、电子、、考古、难融化物和建材工业等领域。但因为XRF操作简便的优点，使得现在一些“不求甚解”的使用者，只会使用，缺乏对于XRF的基础知识。你得懂XRF的原理么？你知道XRF的分类么？你知道各类XRF有什么优势么？
下面为大家一一解答：
XRF的原理是什么？
X射线荧光（XRF），顾名思义，利用了X射线和荧光技术，当原级X射线照射在待测样品上，产生的次级X射线叫X射线荧光，通过分析荧光的波长和能量对物质进行成分和化学形态的分析。XRF理论上可以测定元素周期表中所有的元素，但是在实际应用中，一般有效的元素测量范围为从（Be）到铀（U）的90余种元素。
XRF的分类有哪些？
XRF根据原理不同主要分为两类：波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF），其根本区别在于检测方法的不同：
波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF），简称为波散型XRF，其原理是将X射线荧光通过晶体或人工拟晶体将不同能量的谱线分开，然后进行检测。通过谱线的波长进行定性分析，通过能量的强度进行定量分析。
波散型XRF
能量色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），简称能散型XRF，没有复杂的分光系统，X射线荧光直接进入探测器，再经放大器放大成形后进入多道脉冲幅度分析器，将不同能量的脉冲分开并处理，就可以对能量范围很宽的X射线谱同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。
工作曲线自动选择模块
自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化
演绎得更，使操作更人性，更方便。
软件JPSPEC-FP
针对金属材料元素成份检测而开发（含真空控制功能），对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。
应对不同矿产材料可调式数据，测量时间为100-300秒（可调）