贵金属含量分析仪

贵金属含量分析仪产品详细资料介绍，贵金属含量分析仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司研发生产的edx3000测金光谱仪报价和操作说明。其原理是由高能X射线激发原子电子层，使得原子核外电子发生跃迁，造成二次X射线能量释放，因不同的元素释放的能量具有不同特性，探测系统测量这些能量和数量，从而计算元素含量
有助于识别镀金样件的创新型功能
用户通过摄像头及舱内照明系统，可以看到样件测试位置，提升用户对测试信心
配备多种光学准直器，突破性的解决金丝、金线等细微金属样品的测试难题
测试数据可以下载和打印，检测结果易于查看和分享
无损分析贵金属，*将检测工具探入到被测样件的材料中，也不会损坏被测样件，即可获得饰中各金属的成份信息，判断出饰的成色高低。
速度非常，只需要1秒钟即可以对未知物质定性。

光谱测金仪的工作原理：
光谱测金仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管通过产生入射X射线（一次X射线），来激发被测样品。
受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。
探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定性波长的X射线，因此,只要测出荧光X射线
的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

硬件性能及优势
**高分辨率、**清摄像头、**便捷操作
**速度、**人性化界面
**清摄像头
光管电压5KV - 50KV
高压电源0 ~ 50KV Spellman(USA)
光管管流0μA~ 1000μA
滤光片可选择多种定制切换
探测器SDD
分办率SDD 129土5eV
多道分析器JPSPEC-DPP
样品腔尺寸310*280*60 ( mm)
测试时间30sec一100sec

测金仪其中一种为X荧光，设备其分析方法，是具有一定能量分辨率的X射线探测器同时探测样品所发出的各种能量特征X射线，探测器输出信号幅度与接收到的X射线能量成正比，利用能谱仪分析探测器输出信号的能量大小及强度，对样品进行定量，定性分析。