江苏天瑞仪器股份有限公司
探测器分辨率:140ev环境温度:16-36摄氏度测试精度RSD:0.05%重复性:0.05%仪器尺寸:800x600x100
性能优异的探测器
采用大尺寸CID探测器,、成熟、稳定;大面尺寸,**像素;165-900nm范围连续覆盖,一次曝光,全谱显示;非破坏性读取(NDRO) 功能,改善了弱分析线的信噪比,提高了结果的准确性,并且数据采集与分析均优于CCD; 的线性动态范围和与生俱来的抗溢出功能确保任意强弱的谱线可在一次曝光内测量并进行分析,同时为方法选择理想波长提供了灵活性(可选二、三或次灵敏线来排除干扰)。
EDX3200S X荧光硫元素分析仪是为了适应油品中硫含量检测需要而开发制造的X荧光分析仪。它采用能量色散原理,机电一体微机化设计,分析速、准确。其重复性、再现性都符合国家标准GB/T 17040和GB 11140的相关要求,也完全符合为严格的美国国家标准D 4294-03的要求,它为或石油化工生产过程中硫含量的检测,提供了重要手段。仪器自身绿色环保,其仅为仪器的几分之一。
EDX3200S X荧光硫元素分析仪仪器特点:
7、采用一次性单面Mylar膜样品杯,可避免交叉污染;样品杯制作采用多功能压件,捷方便,杯盖上有气孔并可记录样品编号、S%(m/m)、日期;
8、载样台板置于滑轨平台上,定位非常;
9、仪器数据存储量大,含量分析结果和标定工作曲线参数随时可查;
一、主要技术参数:
1、分析方法:光电比色分析法
2、量程范围:0-1.999A吸光度值,0-浓度值
(以黑色金属中硅、锰、磷、镍、铬、钼、钛、稀土、镁为例)
Mn:0.010~18.00% P:0.0005~2.000% Si:0.010~6.000% ΣRE:0.010~0.500%
Mg:0.010~0.200% Cr:0.01~28.000% Ni:0.010~30.000% Mo:0.010~7.000%
Ti:0.010~5.000%
3、测量精度:符合GB/T223标准
4、可测元素:硅、锰、磷、铜、镍、铬、钼、钛、稀土、镁、钒、铝、钨、铌等。
二、主要特点:
1、程序采用目前流行的VC6.0语言编制而成,各种功能的操作及显示均采用在主屏幕上弹出所需功能窗口的做法,使操作者感到层次清楚、一目了然。
2、仪器测试过程自动校准,保证测量精度,内置多条曲线,可满足多种元素的分析需要。仪器的内存大,可测元素多。
3、仪器建立了的数据库,用于分析结果数据和曲线的打印、储存及查询,其数据及曲线的修改和增删均十分方便。
4、兼容了3A、4A、3AD分析仪的所有功能。