天瑞rohs分析仪

天瑞rohs分析仪优化散热设计，散热效果更好
内置高清摄像头，准确的观察样品放置位置
打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚。
采用美国型的Si-pin探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。
采用*的SES信号增强处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更。

**都陆续了相关控制商品中有害元素含量的法规，而且对有害元素的限制值日渐降低，例如，2006年7月1日实施的欧盟RoHS指令中铅元素限制值是1000ppm，09年实施的美国消费品安全法（简称CPSIA）,铅元素限制值降低到90ppm,面对市场需求,天瑞仪器秉承“无微不至”的精神,采用新技术，特别设计EDX1800型号的X射线荧光光谱仪。研发生产销售edx1800b。EDX1800B作为一种快捷方便的方法，被于重金属和卤素含量的扫描测试。可在两分钟的时间内对电子电器及塑胶等产品的铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr）以及（Br）五种元素含量，仪器有相应标准样品进行测试。

X射线荧光光谱仪，简称XRF，是一种物理的元素分析方法，具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等技术优势，在电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、等行业发挥了重大的作用。
XRF环保EDX系列ROHS检测仪是江苏天瑞仪器股份有限公司*、生产的新一代X射线荧光光谱仪，采用美国进口Si-PIN探测器，元素测试范围：从硫S--铀U的所有元素。
主要应用有：
<1>、准确检测欧盟RoHS指令限制的有害物质(铅Pb、汞Hg、镉Cd、六价铬Cr、、醚)，俗称RoHS检测仪；
<2>、无卤指令，卤素检测；
<3>、玩具等行业限定的8大重金属检测，镉(Cb)、铅(Pb)、汞(Hg)、铬(Cr)、锑(Sb)、(As)、钡(Ba)、硒(Se)；

X射线荧光光谱仪的测试步骤：
（1）选择分析方法与制样方法。分析方法一般有基本参数法、半基本参数法、经验系数法等，制样方法（特指矿石土壤样品）常用粉末压片法制样，采用基本参数法测试。当然如rohs,卤素，镀层可直接进样测试。
（2）将制备好的样片装进样品杯，放入样品交换器中，自动进样至样品室，X射线管发出原级X射线照射样品，激发出待测元素的荧光X射线。
（3）样品出的荧光X射线通过分光晶体，将X射线荧光光谱色散成孤立的单色分析线，由探测器测量各谱线的强度，根据选用的分析方法换算成元素浓度，得到样品中待测元素含量。