x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍,x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑,模块精密化程度高的光谱分析仪,采用了下照式C型腔体设计,是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术,既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能,又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭发出EFP核心算法,结合的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及**物层的厚度及成分含量。
XTD-200是一款于检测各种异形件,特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测,在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势;搭载全自动可编程移动平台,无人值守,便可实现多样品的自动检测。
随着科技的不断发展和创新,人们对于日常使用物品的外观和实用性要求也越来越高,于是装饰铬的应用领域也是越来越广,不管是汽车门把手,以及各种零配件,家用的卫浴,门把手等等工件上面都可以看到它们的身影。镀铬的工艺种类其实有很多,例如有防护性的装饰铬,耐磨性的镀硬铬,镀乳白铬,镀松孔铬,镀黑铬等等。
技术难点:
装饰类镀铬行业的测试难点主要体现在一下几个方面:
1.样品结构比较复杂,需要检测的区域高低不一。
2.样品表面的装饰Cr镀层一般在0.5um以下,Cr在元素周期表中靠前,其X射线荧光能量较弱,加上在异形件测试中,由于测试高度的变化,Cr荧光能量损耗严重,导致测试结果发生偏差。
3.塑料基材类的镀层,由于汽车行业的需求,镀铜镀镍层一般都很厚,底层的铜层由于Ni层较厚,铜层荧光不能穿透出来被接受,导致铜层无法测试。
4.而较薄的镀铜镍铬产品,在电镀时,塑料基体的正面和背面都有电镀,背面的铜镍的荧光可以轻易穿透基材塑料,从而被仪器接收,造成测试结果不能反映产品的真实镀层情况。
*的XTD系列仪器,采用上照式的设计结构,加上自动/手动对焦以及变焦功能,轻松应对各种复杂结构的样品的测试。焦结构的设计加上EFP软件的距离补偿算法,自动补偿因测试距离变长导致的X射线荧光能量的衰减,测试结果更加准确。
的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限
高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积25/50mm²探测器
光路系统:微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置
多准直器自动切换
近一两年的国际关系变化,带给科技行业明显的变化就是担心被卡脖子。相比于站在风口浪尖的半导体行业,与其密切相关的电子测试仪器似乎受到的关注并不多。作为电子产业不可或缺的支撑**,电子测试仪器的重要性随着系统越来越复杂以及设计越来越智能化而不断提升。以广受关注的集成电路产业为例,用于测试和验证部分的工作已经占据整个芯片研发近60%的时间和成本。在更广泛的电子测试领域,以示波器、频谱仪、信号源、矢量网络分析仪等为代表的通用电子测试仪器几乎成为所有开发、测试以及维修工程师的标配。