x射线荧光光谱仪产品详细资料介绍 ,XRF光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术,能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)。
X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
方法应用
①粉末压片法分析痕量元素
粉末压片法多用于分析痕量元素配合熔融法分析主量元素。
②粉末压片法分析主、次、痕量元素
粉末压片法也常用于地质、化探、冶金等样品的全分析。
③熔融后再粉碎压片
熔一块均匀、表面光滑的融片是一项技巧性很强的工作,有些样品不易脱模或容易碎裂,有的对Pt-Au坩埚有腐蚀作用,熔融后粉碎压片的方法(可用石墨坩埚代替Pt-Au坩埚)既可消除颗粒度效应的影响,又解决了不易成型的问题。熔融后再粉碎压片来测定地质试样中的全硫,这样可减小粉末样片保存过程中硫价态变化对分析准确度的影响。
一般来说,对于煤、水泥、岩石、土壤等样品的常规分析,用粉末压片法可达到分析精度和准确度为5%左右的要求。大多数痕量元素的检出限可达100μg/g左右,因X荧光光谱仪有较好的稳定性,还可通过延长计数时间使检出限进一步降低。用粉末压片法制样,结合自动进样装置和自动化分析仪,一次即可准确地分析20-30种元素,完全可以满足地质、矿产、商检等部门的分析需要。
如前所述,粉末压片是根据一定的分析对象进行试验,以选择制样条件,包括各种添加剂的使用、粉碎时间、压力、标样的选取等。这样造成的结果是,对一种分析对象提出的方法不能应用到其它试样中去。关键是尚未找到一种实用有效的粉碎技术,可将粉末试样碎至1-2μm,这种粉碎技术要简单易行,否则就失去了X荧光光谱仪分析快速方便的特点。
产品功能:
1.具有远程诊断功能说明:我们软件集成了常用的DCS系统的通讯协议,如TCP/IP,OPC,ModBus,RS232/485等,可与工厂的配料系统的控制中心或PLC进行数据交换,即可向配料系统传送分析数据,也可传送配比数据。实现在线数据分析、在线质量。
2.具有技术的,快速,安全,性能可靠而实用的样品装卸系统
3.摇臂式设计的样品装卸系统,完善的粉末保护方式,预真空室和限定位置机构,实现高度重现性,无故障,快速稳定。1000W光路设计示意图,
x荧光光谱仪由激发源和探测系统构成,可以产生X荧光来检测各元素的特征X射线的强度,从而测定元素含量。台式X荧光光谱仪的正确操作方法如下:
1、仪器采用X光管产生激发源,因此,在不使用时,仪器会自动将X光管的高压断掉,使X光管的电源处理待机状态。此时,仪器将不会产生任何射线,同时大大X光管的寿命。
2、在放置样品时,只要开启防护罩,仪器也自动将X光管停止,不再产生X射线,完全可以保护使用者的人身安全。
3、开启、关闭仪器盖子时,应轻开轻放。
4、设备使用的操作人员,必须要接受安全和操作培训后,才可上机,以确保设备的安全操作与正确使用。
台式X荧光光谱仪的操作人员应该养成正确的设备使用习惯,在使用中严格按照操作规程来对仪器进行操作。
技术性能及指标:
元素分析范围从钠(Na)到铀(U);
元素含量分析范围为1PPm到;
测量时间:100-300秒(可调);
RoHS指令规定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl)其检测限度达1PPM;
能量分辨率为129±5电子伏特;
温度适应范围为15℃至30℃;
电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源);