物理测厚仪

x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍，x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
合金，是由两种或两种以上的金属与金属或非金属，经一定方法所合成的具有金属特性的混合物。一般通过熔合成均匀液体和凝固而得，根据组成元素的数目，可分为二元合金、三元合金和多元合金。两种或两种以上金属通过一定工艺均匀的融合在一起，就是合金，如，铜锌组成黄铜、铜锡组成青铜，铜镍组成白铜，不锈钢全部是含铬镍钛等金属的合金。
技术难点：
但由于合金中所含有的碳C，硅Si，锰Mn，磷P，铍P，硼B，镁Mg等元素能量较低，X射线无法检测到这些元素。
而XAU这款仪器，采用微聚焦加强型X射线管，搭配SDD硅漂移大面积25mm²探测器，可对地矿、合金及贵金属等物质中的Al（13）-U（92）的80种元素成分分析，检出限高达1ppm。

的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限
高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm²探测器
光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置
多准直器自动切换

仪器配置：
1.微焦X射线发生器
2.光路转换聚焦系统
3.高敏变焦测距装置
4.半导体冷却硅漂移SDD探测器
5.的数字多道分析
6.高精度微型移动滑轨
7.标准片Ni/Fe 5um
8.标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um

XRF对贵金属检测的特优势：
标准：产品符合国家相关行业标准和技术标准，并通过质监局等相关检验机构检验，并可以提供校准证书；
快速：对样品*前处理，一般只需要20～200秒即可判定金、银、铂、钯等含量，方便对饰品做大量抽样的检测；
：ppm级度，可靠的检测数据；
无损：测试前后，样品无任何形式的变化；
直观：实时谱图，可直观显示贵金属和杂质元素含量；
简易：操作简易，*测试人员，*严格的测试条件；
安全：三重保护装置，确保安全无误；
经济：测试过程基本不需要任何耗材，降低测试与维护费用；
可靠：为化学分析提供测量依据，减少成本，提率。
因贵金属饰品的装饰需求，其成品结构形状复杂多变，测试区域小，市面上很多测厚仪根本无法实现对其检测。
XAU系列X荧光贵金属检测仪是、生产的一款，用于检测贵金属的仪器，本系列仪器采用高分辨率探测器，可准确无误的的分析出黄金，铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量，测试结果符合国际标准。
近一两年的国际关系变化，带给科技行业明显的变化就是担心被卡脖子。相比于站在风口浪尖的半导体行业，与其密切相关的电子测试仪器似乎受到的关注并不多。作为电子产业不可或缺的支撑**，电子测试仪器的重要性随着系统越来越复杂以及设计越来越智能化而不断提升。以广受关注的集成电路产业为例，用于测试和验证部分的工作已经占据整个芯片研发近60%的时间和成本。在更广泛的电子测试领域，以示波器、频谱仪、信号源、矢量网络分析仪等为代表的通用电子测试仪器几乎成为所有开发、测试以及维修工程师的标配。