塑料粒子中 阜新国内X射线荧光光谱仪

昆山市周市牧亚凯机电设备商行

1、X射线荧光光谱法是一种现代仪器分析方法，通过X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品；受激发的样品中的每一种元素会发出特征X射线（二次X射线）——这种特征X射线具有特定的能量和波长特性（莫塞莱定律），这些放射出来的二次X射线的能量及数量被探测系统测量，通过配套软件将这些射线信号转化为样品中各种组分元素的具体含量。
1.1 设备及试剂 
设备：X射线荧光光谱仪一台；电子天平一台（精度0.01g）；自动压片机一台（压力不小于40T）；鼓风干燥箱一台；振动磨一台；非金属样品筛（200目） 
试剂： 粉末（分析纯）；土壤标准物质；土壤样品 
1.2 样品的采集、保存和前处理 
土壤样品的采集和保持按照HJ/T166执行，样品的风干或烘干按照HJ/T166相关规定进行操作，样品研磨后过200目筛，于105℃烘干备用。 
用电子天平称量5.00g过筛（200目）的土壤标准物质或样品和12.00g粉末（镶边材质），称量误差±0.05g。然后放入压片机中压片成型，压力30T（压力范围20～30T）,保压时间30s。 
1.3 工作曲线的建立和样品分析 
设定适当的测量条件，使用EDX3200S PLUS扫描标准物质（简称标样）GSS-1～GSS-15，建立土壤标样中关注元素含量与强度的线性工作曲线。然后，对未知样品进行测量。
2. 测量及数据分析 
2.1 土壤中关注的金属元素及氧化物检出限测量 
 配有三组滤光片，根据土壤中关注元素的特性，设置测试条件。用土壤标样GSS-1-GSS-15标定仪器，建立环境土壤工作曲线。在环境土壤工作曲线下，使用高纯SiO2 做空白基体，连续测试11次，根据检出限公式： 3倍的空白基体的标准偏差除以仪器的灵敏度 
终获得测量土壤样品的方法检出限
产品名称：X荧光光谱仪 
测量元素范围：从钠（S）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同） 
同时分析元素：一次性可测几十种元素 
测量时间：60秒-300秒 
探测器能量分辨率为：可达125eV
管压：5KV-70KV 
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃ 
环境湿度：35%-70%
外形尺寸：380mm×360mm×418mm 
性能特点 
**薄窗X光管，指标达到国际水平 
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000cps，精度更高。
FastSDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元 
针对不同元素自动切换滤光片，免去手工操作带来的繁琐 
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
仪器具备安全许可证，且对设备进行三重X射线屏蔽设计，保证了环境下无泄漏，让测试人员安全放心的使用
硬件联动装置，权限安全锁，保证软件失效的情况下还能对设备进行控制，保证设备在使用中的安全无放射
标准配置 
**薄窗X光管 
Fast SDD硅漂移探测器 
数字多道技术
光路增强系统 
高信噪比电子线路单元 
自动切换滤光片 
自动稳谱装置 
三重安全保护模式 
相互的基体效应校正模型 
多变量非线性回归程序

随着玩具行业的发展，玩具安全法规在全世界范围内不断完善，如欧盟的《玩具安全指令》、美国的玩具安全标准-ASTM F963、ISO中一些关于玩具安全标准。这些安全标准对于玩具企业来说，执行这些标准责无旁贷；至于说到管控成本过高的问题，其实是玩具企业没有找到合适的解决方案。
针对玩具安全检测设备，X荧光光谱仪是经济有效的检测设备，它自身灵敏、的特征决定了适合生产过程的之用。
X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金属含量测试（铅、镉、铬、、锑、钡、、硒等）、包装物料的有元素测试、邻苯二甲酸酯类含量、EN71，测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美，还大大节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。
根据多年的RoHS检测技术和经验，以特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足RoHS的成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。
性能特点
RoHS检测，亦可用于镀层检测和全元素分析
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片
电制冷硅针半导体探测器，摒弃液氮制冷
智能RoHS检测软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单
技术指标
测量元素：从硫到铀等 75 种元素
元素含量分析范围：1ppm-99.99%
RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限达 1ppm
测量时间：60-300s
能量分辨率：165±5eV
管压：5-50 kV
管流：50-1000μA
标准配置
信噪比增强器
特的光路增强系统
电制冷硅针半导体检测器
内置高清晰摄像头
自动切换准直器和滤光片
的平台
加强金属元素感度分析器
相互的基体效应校正模型
任意多个可选择的分析和识别模型
应用领域
电子电器行业，电镀行业、各种材质，塑胶，木头，玻璃等等物质中的有害元素检测
电镀行业检测

随着**能源的日益枯竭，资源回收与资源再利用已迫在眉睫。X荧光分析仪可对各种可回收材料（如钢铁、有色金属等合金）进行准确的定量分析。同时也可对各种材料进行品位和牌号的快速和准确的分析。
根据多年的RoHS检测技术和经验，以特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足RoHS的成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成
性能特点
可自动切换准直器和滤光片
RoHS检测
内置信噪比增强器，可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
智能RoHS软件，开发，与仪器相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
多变量非线性回收程序
技术指标
测量元素：从硫到铀等 75 种元素
元素含量分析范围：1ppm-99.99%
RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限达 1ppm
测量时间：60-300s
能量分辨率：165±5eV
管压：5-50 kV
管流：50-1000μA
温度范围：15-30℃
电源：交流 220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）
重量：60kg
自动选择滤光片
多种准直器自动自由切换
电制冷硅针半导体检测器
加强金属元素感度分析器
三重安全保护模式
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
任意多个可选择的分析和识别模型
一次可同时分析 24 个元素
标准配置
信噪比增强器
自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品
特的光路增强系统，方便用户更好地观察样品
测量 RoHS，电镀镀层，全元素分析，一机多用
电制冷硅针半导体检测器，摒弃液氮制冷
特别开发测量软件，操作界面十分友好
内置高清晰摄像头，方便用户随时检测样品
的平台，更方便地调节样品位置
高贵时尚的外型，带给您全新的视觉冲击
样品腔尺寸：605mm×395mm×100mm
应用领域
电子电器行业，电镀行业、各种材质，塑胶，木头，玻璃等等物质中的有害元素检测
电镀行业检测

X射线荧光法检测涂料中有害元素方法
测试原理：涂料表层经X射线激发，发射出特征X射线，特征X射线的能量对应于各特定元素，涂料中元素的浓度直接决定谱线的强度。测量特征X射线的能量或波长，可进行定性分析。测量谱线强度即可进行定量分析。
测试方法：涂料中有害元素的含量可以采用X射线荧光法进行初检，但不得用于仲裁判定。
有害元素检出限的确定：
涂料中的有害元素都可以通过荧光法进行测试，如Cd元素为100ppm，可以通过荧光检测进行初步筛选扣除一些**出荧光检测范围的样品。比如仪器测试样品**过130ppm以上铅含量时，就不必要做化学分析，可以直接判定此样品不合格。而X射线荧光法检测是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关，所以要准确分析6价Cr可以通过二苯碳酰二肼分光光度法进行检测。
性能特点
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
平台：精细的手动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率
技术指标
元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：160±5eV
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
标准配置
样品平台
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测