镀层测厚仪 x射线荧光电镀层测厚仪

  • 2025-01-25 15:20 14325
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江苏天瑞仪器股份有限公司

分析范围:0-50微米分析精度:5较薄测试:0.005微米仪器架构:上照式仪器重量:90公斤分析时间:30S

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
测厚仪
测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。
这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
x射线荧光电镀层测厚仪
测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法,放射测厚法,电解测厚法,涡流测厚法,超声波测厚法。
测量注意事项:
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
x射线荧光电镀层测厚仪
为了进一步促进推进我国有色金属化学元素分析检测技术进展与产业升级,促进应用范围的不断加深与扩大,切实解决当前本领域内关注的热点、焦点和难点问题;3月29日—3月31日,由中冶有色技术平台、中冶有色技术网主办,江苏天瑞仪器股份有限公司(以下简称天瑞仪器)协办的“有色金属化学元素分析检测技术交流会”(以下简称交流会)在昆山成功举行。
x射线荧光电镀层测厚仪
此次天瑞仪器授牌为商业秘密保护示范点,将有效地加大公司商业秘密保护力度,切实保护公司商业秘密核心知识产权,更好的推动公司的创新发展。今后,天瑞也将发挥出示范作用,配合,推进更多示范点建设,共同做好商业秘密保护工作。
2011年4月26日,在2011中国科学仪器发展年会上,天瑞仪器被授予“2010年度具影响力国内仪器产商”及“2010年度网络营销奖”。


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