国产手持式xrf荧光分析仪厂家 重金属测试仪 厂商

  • 2025-02-23 15:20 50525
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江苏天瑞仪器股份有限公司

元素范围:从硫到铀检测限:1ppm重复性:0.1测试误差:15分辨率:160evX光管:0-50kv电源电压:220V环境温度:15-30度

ROHS检测仪产品详细资料和技术参数介绍,ROHS检测仪报价和配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供edx1800B环保卤素rohs检测仪报价。利用大功率X射线管和半导体探测器的高分辨力,对元素含量进行定性定量测试的荧光光谱仪,是适合ROHS指令有害物质测试的检测光谱仪
如何选择ROHS检测仪呢?作为的 rohs检测仪生产商,可以从以下几方面入手考虑,
 先要考察公司的实力,与购买其他产品一样,要购买XRF,我们需要了解该是不是在RoHS指令期间出现。我们都知道仪器技术依赖于积累和沉淀,如果这个公司没有长时间的技术积累,只是为RoHS而生。没有市场认可度很可能突然蒸发,用户将做什么以及谁将负责服务? 
  除了测试RoHS指令测量的元素外,仪器的某些XRF还具有其他功能。有XRF还具有厚度测量功能。以及其它成分的分析。
仪器的性能是购买仪器非常重要的指标。为什么仪器的价格相差较大,主要原因是仪器的心脏,探测器
探测器分辨率的高低决定了仪器的价格和主要性能
国产手持式xrf荧光分析仪厂家
rohs检测仪器的原理是利用x射线荧光技术进行元素含量分析的仪器,待测样品被x射线激发产生荧光,每种元素具有特定的荧光能量值。半导体探测技术可以检测到荧光值,结合现代计算机技术,通过复杂的数学函数,算出待测物品的元素含量。
特的激发X光源
激光X光源、样品激发装置和探测系统,大大提高仪器元素的检测灵敏度,降低检出限。
性能、微量X荧光检出
采用特的光路设计和双引擎设计,并结合使用多组滤片和多组光管激发材的切换,大大地降低了仪器的信噪比,使该仪器在X荧光设备中具有的元素检出限。
大器稳重、准确无损
大样品腔设计,适合于不同大小和形状的样品测试。采用了多重信号的电路处理和滤波技术,使测试更加稳定准确。
自动化程度高、高清摄像头
仪器多组滤片和光路自动切换,自动升降测试盖,高清摄像头。
国产手持式xrf荧光分析仪厂家
EDX采用新一代的铍窗X大功率光管,比市场上其它同类设备寿命提高了5000小时,为了压缩成本,在产品结构优化和硬件上进一步高质设计,减少一些不必要的-客户在实际使用中并用不上的软硬件配置,很大程度上节省了产品的成本费用,使得成本降低20多,直接让利给客户。成为市场上的畅销型产品。成为很多小型工厂的。在应用上属于通用型产品,应用于一切材料的ROHS和无卤检测,EDX5500对被检测材料的种类,化学或物理性质都没有限制,无论是成品,或半成品,无论是金属,塑胶,皮革,化工,鞋材,合成料,固体,液体,粉末等,都能准确,无损,快速地检测。EDX5500-ROHS检测仪器,广泛应用于塑胶,五金,电子电器,化工等生产和制造领域环保临测。
技术参数
测量元素范围 :硫(S)~铀(U)包含ROHS和卤素的所有元素。可以准确定量。测量时间:200S
配新算法的ROHS分析软件,卤素分析软件,材料成份分析软件,软件算法专利为德国。
检出限:分析检出限可达1ppm。含量范围:1ppm~99.9稳定性:0.01管压:5~50KV管流:≤1000uA探测器:SDD探测器,分辨率可达135eV准直器:10种准直器自动切换滤光片:6种滤光片自由切换样品观察:高清工业摄像头环境湿度:≤70环境温度:15℃~30℃电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
国产手持式xrf荧光分析仪厂家
天瑞产品--信噪比增强器(SNE),提高信号处理能力25倍以上。
EDX1800B 规格参数
外观尺寸: 550×416×333mm
样品腔尺寸:460×298×98mm
重量:45Kg
元素分析范围从硫(S)到铀(U)
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
多次测量重复性可达0.1(含量96以上)
长期工作稳定性为0.1(含量96以上)
温度适应范围为15℃至30℃
分析原理:
ROHS检测仪是X射线荧光光谱仪,其分析原理也是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以计算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:
Q=KE
式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技术,并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。


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