有害物质 苏州rohs测试仪器参数

ROHS测试仪器产品资料介绍，rohs测试仪器技术参数和配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供的rohs测试仪edx1800bs是应对欧盟环保rohs指令的有害物质快速测试仪，适合工厂使用，快速，操作简便！高可靠稳定性高压电源和X光管，提高了产品的可靠性。智能的安全防护措施新进、准确的分析软件和分析方法。多元的线性回归方法，消除和降低元素间的吸收、增强效应。高分辨率，高计数率，提高工作效率。
X荧光光谱测试仪器用于检测rohs指令中的Pb、Cd、Hg、六价Cr以及总Br、Cl等元素含量的仪器，X荧光光谱测试仪器适合塑料，电子电子，玩具，皮革，线路板，汽车内饰，设备等是否符合欧盟指令标准的检测仪器。
rohs检测仪器的原理是利用x射线荧光技术进行元素含量分析的仪器，待测样品被x射线激发产生荧光，每种元素具有特定的荧光能量值。半导体探测技术可以检测到荧光值，结合现代计算机技术，通过复杂的数学函数，算出待测物品的元素含量。

ROHS检测仪分辨率从低到高探测器是NaI晶体闪烁计数器，充气比例计数器（He，Ne，Ar，Kr，Xe等），HgI2晶体探测器，半导体冷却Si PIN探测器，高纯硅晶体探测器，高纯锗晶体探测器，电冷或液氮冷却Si（Li）锂漂移。硅晶体探测器，Ge（Li）锂漂移锗探测器等
目前常用的有电冷或液氮冷却Si（Li）锂漂移硅晶体探测器，Si PIN探测器，高纯硅晶体探测器。探测器的性能主要体现在荧光检测的检测限，分辨率和能量范围。因此，如果您希望仪器的检测限良好，您必须了解。 低分辨率探测器的探测元件效果较差，难以探测被测物质中的微量元素。分辨率一般为700-1100eV。通常，可以用来测没有干扰的含量比较高的元素。

元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
多次测量重复性可达0.1％（含量96％以上）
长期工作稳定性为0.1％（含量96％以上）
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：160±5eV

XRF元素分析仪一般使用以下三种类型探测器中的一种：“Prop”（比例）计数器、硅PIN二管，以及硅漂移探测器（SDD）。
    比例计数器是一种气体电离装置，通过产生与能量成比例的检测器输出来测量入射的能量。比例计数器有一个相对更好的检测窗口用于捕获荧光X射线。它们工作在中等电压范围，非常适合于测量传统的单层（和一些多层）电镀沉积物。
    值得一提的是，比例计数仪器是这三种类型探测器中价格便宜的，对于不需要高分辨率的简单应用，可以有效看到光谱峰的分离。但是，这类探测器同样存在一些缺点，主要包括高基线噪声和需要频繁的进行校准。
    温度控制对这些设备至关重要，因为探测器需要使用一些对温度变化高度敏感的气体——比任何固态探测器都要敏感得多。充气管还会随着时间的推移而可能发生一定的泄漏。尽管它有这些缺点，但由于检测窗口较大，其通量通常较高，因此它可以检测到大量的光子。所以，虽然应用领域可能有限，但标准偏差较好。
    硅PIN二管提供的光谱分辨率优于比例计数器。这意味着操作人员可以测量更薄的沉积物和更低的元素浓度，并执行一些更复杂的测量，例如合金和厚层样品以及涉及到未识别材料的测量。凭借Peltier效应（TEC/TEM）冷却技术，硅PIN探测器具有更低的噪音，而且分辨率和检测限都更加出色，结果也更加稳定。
    硅漂移探测器通常能够产生比前两者更高的计数率和光谱分辨率，一般值比硅PIN二管探测器高出50％左右。与比例计数器相比，峰值背景比率得到了显著的改进，基线噪声也更低，可以得到更好的检测限和更大的元素测试范围。
    因为有效地消除了背景噪声，所以硅漂移探测器能够非常地测量重叠元素——周期表上的那些“相邻”元素，如镍、铜、锌以及铬和铁（它们之间的信号分离小）。而原来使用的一些技术，如果没有数学计算就无法解决这些重叠元素的测试。今天，由硅PIN和硅漂移探测器提供的分辨率改进就很好地消除了对数学计算或数字滤波的需要。
    与硅PIN一样，硅漂移探测器芯片组也是根据Peltier效应冷却的，不受气候影响，并且不需要氮气储存。所以，这些探测器几乎不需要进行太多的维护。硅漂移探测器是50μm以下薄膜样品以及一些复杂技术领域中应用的薄膜的检测器，包括ENIG、EPIG和ENEPIG（化学镀镍浸金、化学镀钯浸金和化学镀镍钯浸金）等。
售后服务
1、仪器整机保修2年。保修期以内出现任何维护不收取费用（非人为），保修期到期后只收取配件费用。
2、货到安装验收完毕，免费提供2-3个工作日ROHS培训及仪器操作使用。
3、软件免费升级，提供有效的技术服务，7响应，在接到用户故障信息后4小时内响应，