EDX 4500H 光谱检测仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行、测量、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对可以含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提可以了检测效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
性能特点
薄窗X光管,指标达到水平
新的数字多道技术,让测试,计数率达到100000CPS,精度可以。在合金检测中效果好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较可以的峰背比
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
可以信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增应得到明显的抑制
内置可以清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然
技术参数
产品型号:EDX 4500H
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
测量时间:30秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体
输入电压:AC 110V/220V
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35%-70%
样品腔体积:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
重量:65Kg
标准配置
薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
可以信噪比电子线路单元
内置可以清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵
应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素)
由于社会的可以速发展,传统分析方法也逐渐被仪器分析方法所取代,直读光谱仪不仅速度,分析周期短,稳定性与测量性也较传统的分析方法好。所以,近年来光电直读光谱分析仪的应用在现阶段工业生产中有着很重要的地位。而在实际检验工作中,由于环境变化,时间空间变化,人为操作习惯常常会影响仪器分析的测量性。 1、环境要求:光谱仪环境应该防震,洁净,通风干燥,以创想仪器CX-9000型号来说,环境要求在室外温度达到30℃时,必须配置空调。因为温度变化较大时,会影响仪器的稳定性及数据质量,因此建议安装空调控制温度。 2、电源要求:以创想直读光谱分析仪为例,其基本配电要求为交流供电190-230VAC,三线,单向,50Hz,无电磁干扰,输入电流为16A.要接地线,接地电阻为5Ω。 3、氩气要求:要保证氩气瓶是否有氩气,而且纯度必须为99.999%以上的可以纯氩气,需要特别强调的是氩气的纯度与流量对分析测量值有很大影响.如果氩气达不到要求,则必须配备一台氩气净化器。使用前要检查氩气是否与主机、压力表正确链接,打开氩气阀,检查氩气压力是否在10bar以上。 4、气压、温度要求:开机后,检查气压温度等条件是否满足仪器正常使用的要求。 5、试样打磨:试样打磨对于测量也很重要,样品表面纹路清晰,无缩孔,无砂眼则可进行测量分析,打磨好的试样表面不可以触摸,这是人为操作误差中常见的误差,一定要严格按安全操作规程操作。 6、模式选择:选择模式,根据所测量试样的材质不同,而采用其相应的模式。简单的说,直读分析测量属于定性定量分析,所以它比其它定性半定量或者定量分析都要加测量。 7、清洁:检验电和激发装置是否清洁,用电刷清洁电和激发装置,电子表面钝化则需换,然后用电安装工具使其固定在正确位置。 8、打样:用废样打点,直到打出的点符合的金属光泽点要求后,用与被测样品相近的标准试样测量,若标样的测量值与标准值偏差小,就可以进行测量了,若偏差较大或不稳定,应对此标样做OPS,若OPS结果仍不理想,那就需要重新制作曲线了,直到问题解决为止。