X荧光光谱仪属于的分析检测仪器,随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展,X荧光分析仪技术向着智能化、小型化联用的方向发展。ROHS检测仪公司在以已掌握的成熟的台式X荧光光谱仪技术为基础,结合国外相关新的技术发展成果,研制出具有自主知识产权的便携式X荧光矿石分析仪,它的大的亮点在于它大铍窗薄口的可以分辨SDD探测器和的FP软件算法,产品通过了江苏省计量科学研究院的检测,并通过中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定,技术达到水平。
秉承20多年X荧光光谱仪(便携式光谱仪)研发经验,ROHS检测仪仪器全新一代手持XRF矿石分析仪——探索者EXPLORER 7000再次带来了一场分析领域的革命。
应用领域:
专为粉未冶炼行业研发的一款可以端设备,主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。
同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。
仪器配置:
铍窗电制冷SDD探测器
薄窗X光管
信噪比增强器SNE
近光路增强系统
可配样品测试平台
自动切换型准直器和滤光片
真空腔体
自动稳谱装置
90mm×70mm的液晶屏
的数字多道技术
多变量非线性回归程序
相互立的基体效应校正模型
软件应用优势:
采用公司新的能谱EDXRF软件,的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有可以灵敏度、测试时间短、一键智能化操作,操作简易,对操作人员限制小的特点。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
全新的软件界面和内核,采用FP和EC软件组合的方法,应用面加广泛。
地矿行业应用优势
检测元素:标准配置可检测60种元素,同时可按客户需求增加检测元素
性:矿石版分析软件,采用智能一键测试
*个性化定制工作模式
多种矿样模式选择和无限数目模式的自由添加,根据客户需求定制工作模式。
*测量界定矿山边界
内置GPS功能,在野外可随时搜索卫星信号,在测试时可随时记录测量的经纬度、海拔可以度,确定取样点的地理位置信息,并随测试报告同时保存。
*获得的坐标分析数据可绘制成矿山矿石分布图,从而普查大范围矿区,测量掌握矿脉走向,界定矿山边界,做到**开采富矿区,大大提可以生产效率。
*内置蓝牙功能,配置蓝牙打印机后,可实现矿区原位测试的“边测边打”功能。
*充分挖掘矿山价值
可以清摄像头,可对被检测的矿脉或矿点部位进行直观的观察,并对开采过程进行管理和控制,随时检测矿石品位。
*对选矿过程中原矿、精矿和尾矿等进行分析,为矿石品位的测定、矿物贸易、加工以及再利用提供价值判定依据。
*环境监控
对开采矿山周围土壤中的重金属进行监测和检测,评估矿山环境的修复情况,大限度的监测好矿山周边的环境。
金属镀层膜厚仪Thick 8000镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型可以端仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
性能优势
1.精密的三维移动平台
2.的样品观测系统
3.的图像识别
4.轻松实现深槽样品的检测
5.四种微孔聚焦准直器,自动切换
6.双重保护措施,实现无缝防撞
7.采用大面积可以分辨率探测器,有效降低检出限,提可以测试精度
全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动自检、复位;
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样;
关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦;
直接点击全景或局部景图像选取测试点;
点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示结果。
技术指标
分析元素范围:硫(S)~铀(U)
同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层
检出限:可达2ppm,薄可测试0.005μm
分析含量:一般为2ppm到99.9%
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)
重复性:可达0.1%
稳定性:可达0.1%
SDD探测器:分辨率低至135eV
的微孔准直技术:小孔径达0.1mm小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业可以清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 可以速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:15℃~30℃
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