天瑞x射线荧光分析仪

江苏天瑞仪器股份有限公司

天瑞x射线荧光分析仪产品详细介绍，天瑞x射线荧光分析仪采用下照式设计，不污染窗口；10通道定制，变化灵活；远程协助功能，急速解决问题能力；同时分析多种元素，Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe等元素及氧化物的分析，是大中型企业质量控制的理想选择。

应用行业：

建筑材料/水泥

耐火材料/陶瓷

冶金矿产/采矿

金属材料

学术研究、教学

玻璃、石墨

土壤调查/元素分析

工艺控制

成分质量控制

成分检测

检验设备

成分指令控制

产品特点：

1.1分钟即可完成准确测试，换样抽真空时间小于15秒

2.下照式X射线检测，彻底避免样品破碎造成的仪器故障，提高使用效率

3.采用高精度流气密度稳定器(**技术)

4.标准配置Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe十种元素及氧化物的分析

5.引入先进测试系统技术、测试的短期和长期稳定性较好

6.配备经验系数法、理论影响系数法、基本参数法等定量分析方法

7.测试精度远优于GB/T176-2008对重现性的要求，轻松满足行业需求

产品功能：

1.具有远程诊断功能说明:我们软件集成了常用的DCS系统的通讯协议，如TCP/IP，OPC，ModBus，RS232/485等，可与工厂的配料系统的控制中心或PLC进行数据交换，即可向配料系统传送分析数据，也可传送配比数据。实现在线数据分析、在线质量监控。

2.具有**技术的，快速，安全，性能可靠而实用的样品装卸系统

3.摇臂式设计的样品装卸系统，完善的粉末保护方式，预真空室和限定位置机构，实现高度重现性，*无故障，快速稳定。1000W光路设计示意图，

4.WDXRF色散方法是建立在X射线波动性基础上，依据布拉格定律（2dsinθ=nλ）对样品发射出的特征X射线及原级谱线的散射线进行分光，再将待测元素的特征X射线与基体中某些元素的高次线射入探测器并将光信号转换为电信号，经放大后，再通过模数转换（ADC）将电信号转换为数字信号，然后由脉冲高度分析器筛除高次线、晶体荧光等，通过数据处理将特征X射线强度转换为浓度。

5.Ux-1000W连续72小时检测Ca:Ka谱线的强度，达到Q1.1，Si:Ka谱线的强度，达到Q1.05, 其他谱线轻易就可达到Q1.02，

6.1000W具有良好的稳定周期：采用了一系列先进的自动控制算法，使恒温控制、油温控制、流气密度稳定控制(**)、高压电源控制达到了新的层次，从而使仪器的测试稳定性得以大幅度提高，接近理论极限。对于应用行业，CaO含量和SiO2含量的精度是非常重要的。Ux-1000W连续72小时检测Ca:Ka谱线的强度，达到Q1.1，Si:Ka谱线的强度，达到Q1.05,其他谱线轻易就可达到Q1.02，荧光强度的稳定性(包括短期稳定性和长期稳定性)较其**。使仪器的校验周期延长到每周一次。加上采用进口瓦里安X光管（76um,400W薄皮窗）和进口高压电源（60kV，10mA），使产品的稳定性达到良好水平。

7.1000W仪器采用WdxAnalyzer V1**工作站，人机对话的软件界面、模块化的操作按钮，不同权限的操作员凭密码登陆、输可选多种模式等特点。

天瑞仪器在引进美国产的卤素测试高效X光管，利用高信噪比的电子线路单元和卤素测试**X荧光分析软件,已经成功研制出新款分析仪器EDX1800B(H)。**配件是针对卤族元素(特别是氯元素)的测试而开发。经过多次实验无卤分析所得数据分析，无卤分析的结果十分接近标准值，)可广泛应用于各种类型的无卤测试。

仪器详情

型号：EDX 1800B

仪器介绍

X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性； 利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。

性能特点

专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。

内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。

针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。

电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。

智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。

技术指标

测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）

元素含量分析范围：1ppm—

同时分析元素：24种元素同时分析

测量镀层：镀层厚度测量较薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层

分析精度：0.05

测量对象状态：粉末、固体、液体

测量时间：60s—200s

能量分辨率为：（150±5）eV

管压：5KV—50KV

管流：50uA—1000uA

标准配置

电制冷UHRD探测器

信噪比增强器

光路增强系统

内置高清晰摄像头

可自动切换型准直器和滤光片

精准的升降平台

加强的金属元素感度分析器

应用领域

ROHS检测和镀层测厚

钢铁和有色金属检测

水泥检测

矿料分析