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- 产品价格：面议
- 发货地址：广东佛山南海区 包装说明：不限
- 产品数量：9999.00 个产品规格：不限
- 信息编号：113071424公司编号：14438705
- 欧军明 经理 微信 13923228825
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陇南销售薄膜测厚仪生产 蓝丝莱
- 相关产品：
应用范围
采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
执行标准
ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 DIN 53105、 DIN 53353、 JIS K6250、 JIS K6328、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
佛山蓝丝莱在线X射线测厚仪，在线B（贝它）射线测厚仪1.适用于各种工艺的生产设备：流延、压延、单向拉伸、双向拉伸、复合等设备2.适用于各种厚度的材料：薄膜、片材、板材3.适用于各种原料：PP\PE\EVA\PVB\PVC\ABS\塑料合金等等4.不受材料是否透明、是否有颜色的影响5.扫描精度可达：正负0.15微米6.测厚仪的核心部件均由我司开发制造，包括：a.高灵敏度传感器（国产测厚仪中好稳定的传感器）b.对于X射线测厚仪，X射线的封装、已经高稳定的X射线电源的开发制造均由我司掌握。c.测量控制软件基于windows系统平台开发的软件,便于操作及维护,*有的硬件和软件双结合抗干扰设计，使我们的测厚仪在技术指标于**。d.设计巧妙的O型扫描架，高刚性、重复性好，无须加入任何润滑剂，避免了对塑料制品的污染，选用高质量的运动部件，基本上不存在易损件。多年的专业设计、制造在线测厚仪的经验，使我们更透彻了解用户的需求，不断精益求精，不断完善产品的细节，产品的技术指标和高稳定的使用水平已经远远于**的产品。
测量原理
使用两个激光传感器安装在被测物（纸张）上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标的厚度值。
非接触式薄膜测厚仪的出现，大大提高了纸张等片材厚度测量的精度，尤其是在自动化生产线上，得到广泛应用。
（1）采用进口优质传感器，测厚分辨率高达0.1微米选用优质传动元件，确保了试验结果的稳定性与准确性。
（2）大液晶屏显示，操作简便，配备微型打印机直接打印试验报告。
（3）另外具有电脑通信接口，通过选购软件实现数据的*性存储、查询、打印；软件功能强大，可将成组试验数据用柱形图或列表方式进行统计，试结报告可直接在局域网或广域网中进行传输
薄膜测厚仪，又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等，薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
（1）测量范围为0～2mm(常规)(0～6mm可选)；
（2）自动走样，液晶显示(包含配套软件)；
（3）测量速度为(可调)；
（4）测量压力为17.5±1kPa(薄膜)。
仪器配置
标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件
选购件：专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码
非接触式设备
英国公司研发出的非接触式测量方法测厚仪，可以实现对薄膜的非接触式测量，避免对纸张造成形变引起误差。
薄膜测厚仪根据其测量方式的不同，可分为：
接触式薄膜测厚仪：点接触式，面接触式。
非接触式薄膜测厚仪：射线，涡流，超声波，红外等
注：我们所能见到的包装材料实验室厚度测试的标准，包括标淮，国际、美国、日本、欧洲标准等均*采用机械式测厚中的面接触测厚的方式，同时该方法也被作为薄膜，铝箔，纸张等材料的仲裁方法。
测量注意事项：
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
技术特征
严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差
支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择
实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性
系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果
系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看
标准的RS232接口，便于系统的外部连接和数据传输
支持Lystem?实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告
技术指标
负荷量程：0～2mm（常规）；0～6mm；12mm（可选）
分辨率：0.1μm
测量速度：10 次/min （可调）
测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
电源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：300mm(L)×275mm(W)×300mm(H)
净重：33kg
采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
执行标准
ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 DIN 53105、 DIN 53353、 JIS K6250、 JIS K6328、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
佛山蓝丝莱在线X射线测厚仪，在线B（贝它）射线测厚仪1.适用于各种工艺的生产设备：流延、压延、单向拉伸、双向拉伸、复合等设备2.适用于各种厚度的材料：薄膜、片材、板材3.适用于各种原料：PP\PE\EVA\PVB\PVC\ABS\塑料合金等等4.不受材料是否透明、是否有颜色的影响5.扫描精度可达：正负0.15微米6.测厚仪的核心部件均由我司开发制造，包括：a.高灵敏度传感器（国产测厚仪中好稳定的传感器）b.对于X射线测厚仪，X射线的封装、已经高稳定的X射线电源的开发制造均由我司掌握。c.测量控制软件基于windows系统平台开发的软件,便于操作及维护,*有的硬件和软件双结合抗干扰设计，使我们的测厚仪在技术指标于**。d.设计巧妙的O型扫描架，高刚性、重复性好，无须加入任何润滑剂，避免了对塑料制品的污染，选用高质量的运动部件，基本上不存在易损件。多年的专业设计、制造在线测厚仪的经验，使我们更透彻了解用户的需求，不断精益求精，不断完善产品的细节，产品的技术指标和高稳定的使用水平已经远远于**的产品。
测量原理
使用两个激光传感器安装在被测物（纸张）上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标的厚度值。
非接触式薄膜测厚仪的出现，大大提高了纸张等片材厚度测量的精度，尤其是在自动化生产线上，得到广泛应用。
（1）采用进口优质传感器，测厚分辨率高达0.1微米选用优质传动元件，确保了试验结果的稳定性与准确性。
（2）大液晶屏显示，操作简便，配备微型打印机直接打印试验报告。
（3）另外具有电脑通信接口，通过选购软件实现数据的*性存储、查询、打印；软件功能强大，可将成组试验数据用柱形图或列表方式进行统计，试结报告可直接在局域网或广域网中进行传输
薄膜测厚仪，又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等，薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
（1）测量范围为0～2mm(常规)(0～6mm可选)；
（2）自动走样，液晶显示(包含配套软件)；
（3）测量速度为(可调)；
（4）测量压力为17.5±1kPa(薄膜)。
仪器配置
标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件
选购件：专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码
非接触式设备
英国公司研发出的非接触式测量方法测厚仪，可以实现对薄膜的非接触式测量，避免对纸张造成形变引起误差。
薄膜测厚仪根据其测量方式的不同，可分为：
接触式薄膜测厚仪：点接触式，面接触式。
非接触式薄膜测厚仪：射线，涡流，超声波，红外等
注：我们所能见到的包装材料实验室厚度测试的标准，包括标淮，国际、美国、日本、欧洲标准等均*采用机械式测厚中的面接触测厚的方式，同时该方法也被作为薄膜，铝箔，纸张等材料的仲裁方法。
测量注意事项：
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
技术特征
严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差
支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择
实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性
系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果
系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看
标准的RS232接口，便于系统的外部连接和数据传输
支持Lystem?实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告
技术指标
负荷量程：0～2mm（常规）；0～6mm；12mm（可选）
分辨率：0.1μm
测量速度：10 次/min （可调）
测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
电源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：300mm(L)×275mm(W)×300mm(H)
净重：33kg
