- 2024-11-26 16:34 4460
- 产品价格：158000.00 元/个 起
- 发货地址：江苏苏州昆山市 包装说明：不限
- 产品数量：9999.00 个产品规格：不限
- 信息编号：242526048公司编号：23118035
- 柏自新 经理 微信 15190185116
- 进入店铺 在线留言 QQ咨询 在线询价
手持式合金测试仪价格 便携式合金成本检测仪
- 相关产品：
分析方法：能量色散X荧光分析方法测量元素范围：镁（Mg）到铀（U）之间的元素均可测量同时检测元素：数几十种元素可同时分析处理器和内存：CPU：667MHz,内存：256M，扩展存储最大支持32G，标配2G，可以海量存储数据含量范围：ppm～99.99%检测时间：3-30秒GPS、WIFI：内置系统检测对象：固体、液体、粉末探测器：25mm2 0.3mil，SDD探测器探测器分辨率：最低可达139eV激发源：40KV/100uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源视频系统：高清晰摄像头显示屏：半透半反式液晶显示触摸屏，其分辨率是640*480检出限：最低检出限达ppm级安全性：自带密码管理员模式，数据可随意保存可充气系统：常压充氦气系统数据传输：数字多道技术，SPI数据传输，分析，高计数率操作环境湿度：≤90%仪器外形尺寸：234×306×82mm（L×H×W）仪器重量：1.9Kg（配备电池），1.6Kg（无电池）
手持式光谱仪主要由X光管、探测器、CPU以及存储器组成，由于其便携具有、便携、准确等特点，使其在合金、矿石、环境、消费品等领域有着重要的应用。 要求具有高的分辨率和信噪比、更好的强度准确性和波长准确性以及强的抗外界干扰性和优良的仪器稳定性，在仪器的软件上，要求能够进行导数、去卷积等复杂的数学计算，能够计算光谱间相似度、模式识别分析、支持多元校正分析和用户自建谱库并进行检索技术参数： 重量： 1.6kg 尺寸： 30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H） 激发源： X射线管，Ag靶，40kV 检测器： SI-PIN检测器 操作系统：HP掌上电脑：Windows 5.0 Bruker 软件 冷却系统：Peltier 半导体冷却系统 电源： 交、直流供电;充电锂电池 工作条件：温度：-20 ℃ ～ 55 ℃ 湿度：0～95%
手持式光谱仪用于的定量定性分析：
手持式光谱仪是一种功能强大,并且可扩展的手持式光谱仪,广泛用于金属材料的成分分析,牌号鉴别和分选.它包括激发和配有可充电电池的光谱仪主机两部分.它工作时,既不需要氩气,也不需要放射源。 1、原理：手持式光谱仪属于荧光光谱,实验室用的直读属于火花直读光谱,是激发源不同 2、精度：手持式光谱仪主要用于定性分析,实验室用的火花直读光谱主要用于定量分析 3、分析范围：手持式光谱仪可分析金属及矿石,并且可分析一些火花直读无法激发的基体,例如锆基体；实验室直读光谱仪虽然分析的基体比手持式的少,但是相同基体里分析的元素种类比手持式的要多。
合金材料分析 目前在合金材料检测领域，它主要用于、航天、钢铁、石化、电力、制药等领域金属材料中元素成份的现场测定，是伴随世界经济崛起的工业和制造领域必不可少的成份鉴定工具。 重金属检测 除了传统的合金材料检测，贵金属，RoHs合规筛查，矿石分析，手持式XRF仪器同样在地质勘探和环境评估中发挥着重要的作用，通过分析土壤中的重金属元素，可以知道整个区域的矿产分布和污染分布。 其他领域 XRF技术还可以用于一些新的领域，比如风电和汽车领域，通过对油品中金属元素含量进行检测，可以间接反映轴承的磨损情况。还有许多新的XRF应用领域正在被开发出来，使得XRF技术在各个行业领域得到了广泛的应用。比如工厂的生产制造环节的焊接质量控制，也会用到XRF合金分析仪。
手持式分析仪 探测器：13mm2 电致冷Si-PIN探测器 激发源：40KV/50uA-银端窗一体化微型X光管 检测时间：10-200秒（可手持式或座立式测试） 检测对象：固体、液体、粉末 检测范围：硫(S)到铀(U)之间所有元素 可同时分析元素：多至26个元素 元素检出限：0.001%～0.01% 校正方式： 银(Ag) 性：自带模式，非授权人员无法使用 Data使用性：可在PDA内进行编辑，可导入PC机进行 保存打印，配备海量存储卡 电 源： 两块锂电池满电可连续工作8小时
手持式光谱仪系统误差的来源有： (1)标样和试样中的含量和化学组成不完全相同时，可能引起基体线和分析线的强度改变，从而引入误差。 (2)标样和试样的物理性能不完全相同时，激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。 (3)浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属组织结构不相同时，测出的数据会有所差别。 (4)未知元素谱线的重叠干扰。如熔炼过程中加入脱氧剂、除硫磷剂时，混入未知合金元素而引入系统误差。 (5)要系统误差，必须严格按照标准样品制备规定要求。为了检查系统误差，需要采用化学分析方法分析多次校对结果。
