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金相显微镜测镀层厚度 x荧光膜厚仪 深圳天瑞仪器
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较薄可测试：0.005um较多可测试层数：5层原理：X荧光光谱检测器类型：SDD探测器算法：FP基本参数
涂/镀层厚度测量相关参考标准GB/T 6462-2005 金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法
GB/T16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱法
ASTM B487-1985(2007) 用横断面显微观察法测定金属及氧化层试验方法
ASTM B748-1990(2010) 通过用扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的试验方法
联系电话是13699806927, 主要经营江苏天瑞仪器股份有限公司专业生产和销售：X射线荧光光谱仪,能量色散X荧光光谱仪,波长色散X荧光光谱仪,手持式光谱仪,手持式合金分析仪,重金属检测仪,直读光谱仪,VOC检测仪,合金分析仪,元素分析仪,紫外光谱仪,重金属分析仪,VOC检测,贵金属检测,贵金属检测仪,在线监测,土壤修复,ROHS检测仪器,黄金检测仪等。。
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