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江苏天瑞仪器股份有限公司
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x荧光膜厚仪 深圳天瑞仪器 涂镀层测厚仪qnix4500
2024-06-17 12:42
116
0
产品价格:
面议
发货地址:
江苏苏州昆山市
包装说明:
不限
产品数量:
9999.00 台
产品规格:
不限
信息编号:
245976338
公司编号:
8658626
胡遵英
销售经理
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相关产品:
江苏天瑞仪器股份有限公司
较薄可测试:
0.005um
较多可测试层数:
5层
原理:
X荧光光谱
检测器类型:
SDD探测器
算法:
FP基本参数
镀层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中**种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
产品分类
RoHS检测仪
ROHS2.0检测仪
镀层厚度测试仪
X射线荧光光谱仪
光谱仪
色谱仪
地质矿产
环境保护
食品安全
珠宝首饰贵金属
石油化工
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