- 2024-11-11 12:05 380
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X-ray测厚仪 天瑞仪器生产 镀层检测中心
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较薄可测试：0.005um较多可测试层数：5层原理：X荧光光谱检测器类型：SDD探测器算法：FP基本参数
金相法是通过用金相显微镜检查被测零件的断面来测量金属镀层及氧化物覆盖层的厚度，具有精度高、重现性好等特点。一般用于对镀层厚度有要求的产品测厚或校验和仲裁其他测厚方法。测试设备：金相显微镜
参考标准：GB/T 6462, ISO 1463,ASTM B487
