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镀层附着力测试 x荧光光谱仪
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较薄可测试：0.005um较多可测试层数：5层原理：X荧光光谱检测器类型：SDD探测器算法：FP基本参数
镀层测厚仪：型号：THICK600
分析范围： Ti-U，可分析高3层15个元素
分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）
测量时间：40秒（可根据实际情况调整）
探测器分辨率：（160±5）eV
光管高压：5-50kV
管流：50μA-1000μA
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：30%-70%
准直器：配置不同直径准直孔，小孔径φ0.2mm
仪器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm
仪器重量：30kg
